电调红外波谱成像探测方法与谱器件关键技术研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
1.1 引言 | 第9-10页 |
1.2 国内外电控液晶技术发展近况 | 第10-16页 |
1.3 本论文的主要研究工作 | 第16-17页 |
2 器件设计原理、结构与仿真 | 第17-36页 |
2.1 器件设计原理 | 第17-23页 |
2.2 单片电控液晶器件结构及仿真 | 第23-27页 |
2.3 级联器件结构和仿真 | 第27-35页 |
2.4 本章小结 | 第35-36页 |
3 器件的制作及测试 | 第36-79页 |
3.1 单片器件的制作及测试 | 第36-45页 |
3.2 单片可寻址器件的制作与测试 | 第45-60页 |
3.3 级联器件的制作及测试 | 第60-77页 |
3.4 谱成像测试 | 第77页 |
3.5 小结 | 第77-79页 |
4 电可调器件技术研究 | 第79-86页 |
4.1 器件的衬底及电极 | 第79-82页 |
4.2 器件定向层相关技术研究 | 第82-84页 |
4.3 器件的测试技术 | 第84-85页 |
4.4 小结 | 第85-86页 |
5 总结与展望 | 第86-89页 |
5.1 本文总结 | 第86-87页 |
5.2 存在的问题与展望 | 第87-89页 |
致谢 | 第89-90页 |
参考文献 | 第90-94页 |
附录 1 硕士期间发表的论文 | 第94-95页 |
附录 2 仿真程序 | 第95-98页 |