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电容性设备介质损耗角检测方法与实现

摘要第1-3页
ABSTRACT第3-7页
1 绪论第7-12页
   ·选题的背景及研究意义第7-9页
   ·本课题国内外研究动态第9-11页
   ·本文的主要内容第11-12页
2 介质损耗的测量原理第12-35页
   ·电容型设备介质损耗的原理第12-16页
     ·电容型设备介质损耗第12-15页
     ·tanδ测量的意义第15-16页
   ·介质损耗的测量方法第16-22页
     ·过零点时差比较法第17页
     ·过零点电压比较法第17-18页
     ·正弦波参数法第18-19页
     ·相关分析法第19-20页
     ·高阶正弦拟合法第20-21页
     ·谐波分析法第21-22页
   ·谐波分析法的局限性第22-30页
     ·频谱泄露第24-28页
     ·栅栏效应第28-29页
     ·基于加窗插值的FFT 法第29-30页
   ·加窗插值法的仿真分析第30-34页
   ·小结第34-35页
3 电容性设备介质损耗角测量系统的硬件设计第35-42页
   ·电容性设备介损测量系统硬件的总体设计第35-36页
     ·实验平台第35页
     ·介质损耗测量硬件第35-36页
   ·硬件电路的设计第36-40页
     ·DSP 芯片简介第37-39页
     ·信号采集隔离电路的设计第39-40页
   ·硬件抗干扰措施第40-41页
   ·小结第41-42页
4 介质损耗角测量系统软件设计第42-48页
   ·软件概述第42页
   ·软件设计第42-47页
     ·软件的总体结构第42-43页
     ·开发软件 CCS3.3 简介第43-44页
     ·SEEDXDS510PLUS 仿真器第44-45页
     ·主控制程序流程第45页
     ·数据采样子程序第45-46页
     ·数据处理子程序第46页
     ·软件抗干扰措施第46-47页
   ·实验结果第47页
   ·小结第47-48页
5 总结第48-49页
   ·结论第48页
   ·展望第48-49页
致谢第49-50页
参考文献第50-51页

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