电容性设备介质损耗角检测方法与实现
摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-7页 |
1 绪论 | 第7-12页 |
·选题的背景及研究意义 | 第7-9页 |
·本课题国内外研究动态 | 第9-11页 |
·本文的主要内容 | 第11-12页 |
2 介质损耗的测量原理 | 第12-35页 |
·电容型设备介质损耗的原理 | 第12-16页 |
·电容型设备介质损耗 | 第12-15页 |
·tanδ测量的意义 | 第15-16页 |
·介质损耗的测量方法 | 第16-22页 |
·过零点时差比较法 | 第17页 |
·过零点电压比较法 | 第17-18页 |
·正弦波参数法 | 第18-19页 |
·相关分析法 | 第19-20页 |
·高阶正弦拟合法 | 第20-21页 |
·谐波分析法 | 第21-22页 |
·谐波分析法的局限性 | 第22-30页 |
·频谱泄露 | 第24-28页 |
·栅栏效应 | 第28-29页 |
·基于加窗插值的FFT 法 | 第29-30页 |
·加窗插值法的仿真分析 | 第30-34页 |
·小结 | 第34-35页 |
3 电容性设备介质损耗角测量系统的硬件设计 | 第35-42页 |
·电容性设备介损测量系统硬件的总体设计 | 第35-36页 |
·实验平台 | 第35页 |
·介质损耗测量硬件 | 第35-36页 |
·硬件电路的设计 | 第36-40页 |
·DSP 芯片简介 | 第37-39页 |
·信号采集隔离电路的设计 | 第39-40页 |
·硬件抗干扰措施 | 第40-41页 |
·小结 | 第41-42页 |
4 介质损耗角测量系统软件设计 | 第42-48页 |
·软件概述 | 第42页 |
·软件设计 | 第42-47页 |
·软件的总体结构 | 第42-43页 |
·开发软件 CCS3.3 简介 | 第43-44页 |
·SEEDXDS510PLUS 仿真器 | 第44-45页 |
·主控制程序流程 | 第45页 |
·数据采样子程序 | 第45-46页 |
·数据处理子程序 | 第46页 |
·软件抗干扰措施 | 第46-47页 |
·实验结果 | 第47页 |
·小结 | 第47-48页 |
5 总结 | 第48-49页 |
·结论 | 第48页 |
·展望 | 第48-49页 |
致谢 | 第49-50页 |
参考文献 | 第50-51页 |