摘要 | 第5-7页 |
abstract | 第7-9页 |
第一章 绪论 | 第13-26页 |
1.1 研究工作的背景与意义 | 第13-14页 |
1.2 表面波的国内外研究历史与现状 | 第14-23页 |
1.2.1 表面波理论的研究历史与现状 | 第14-18页 |
1.2.2 表面波测试方法的研究现状 | 第18-23页 |
1.3 本文的主要贡献与创新 | 第23-24页 |
1.4 本论文的结构安排 | 第24-26页 |
第二章 表面波的传播机理 | 第26-55页 |
2.1 表面波的场分量 | 第26-35页 |
2.1.1 ZENNECK表面波 | 第26-30页 |
2.1.2 径向柱面表面波 | 第30-32页 |
2.1.3 轴向柱面表面波 | 第32-35页 |
2.2 表面波的特性参数 | 第35-47页 |
2.2.1 表面波阻抗 | 第35-40页 |
2.2.1.1 ZENNECK与径向柱面表面波阻抗 | 第35-38页 |
2.2.1.2 轴向柱面表面波阻抗 | 第38-40页 |
2.2.2 表面波的传播常数 | 第40-42页 |
2.2.3 表面波的等幅面和等相面 | 第42-43页 |
2.2.4 表面波的相速和能速 | 第43-46页 |
2.2.5 表面波的衰减和损耗 | 第46-47页 |
2.3 表面波的传输方程 | 第47-54页 |
2.3.1 天线有效孔径的计算 | 第47-48页 |
2.3.2 二维空间中接收天线的有效宽度 | 第48-52页 |
2.3.3 二维空间中天线最大方向性和最大有效宽度 | 第52-53页 |
2.3.4 表面波传输方程的计算 | 第53-54页 |
2.4 本章小结 | 第54-55页 |
第三章 表面波的激励与耦合 | 第55-76页 |
3.1 表面波的激励 | 第55-63页 |
3.1.1 激励方式 | 第58-62页 |
3.1.2 激励效率 | 第62-63页 |
3.2 表面波的耦合 | 第63-68页 |
3.2.1 黑体辐射理论 | 第63-65页 |
3.2.2 表面波耦合方程 | 第65-68页 |
3.2.2.1 表面波之间不同模式耦合 | 第65页 |
3.2.2.2 表面波与自由空间波耦合 | 第65-67页 |
3.2.2.3 耦合传输方向 | 第67-68页 |
3.3 表面波耦合系数的计算 | 第68-75页 |
3.3.1 模型仿真 | 第68-70页 |
3.3.1.1 矩形微带贴片天线间的耦合 | 第68-69页 |
3.3.1.2 单偶极子天线间的耦合 | 第69-70页 |
3.3.2 数值计算 | 第70-75页 |
3.4 本章小结 | 第75-76页 |
第四章 基于自由空间波法表面波抑制测试技术研究 | 第76-113页 |
4.1 测试原理 | 第76-81页 |
4.1.1 测试原理 | 第76-81页 |
4.1.2 测试系统组成 | 第81页 |
4.2 传感器的设计 | 第81-103页 |
4.2.1 表面波激励源的设计 | 第81-101页 |
4.2.1.1 超宽带双脊喇叭天线的研究 | 第82-93页 |
4.2.1.2 超宽带VIVALDI天线的研究 | 第93-101页 |
4.2.1.3 两种激励天线性能的比较 | 第101页 |
4.2.2 表面波产生结构分析 | 第101-102页 |
4.2.3 表面波接收装置及测试平台的设计 | 第102-103页 |
4.3 测试系统的集成 | 第103-105页 |
4.4 测试结果及误差分析 | 第105-112页 |
4.4.1 测试结果 | 第106-110页 |
4.4.2 误差来源及分析 | 第110-112页 |
4.5 本章小结 | 第112-113页 |
第五章 基于慢波结构表面波抑制测试技术研究 | 第113-137页 |
5.1 测试原理 | 第113-115页 |
5.1.1 测试原理 | 第113-114页 |
5.1.2 测试系统组成 | 第114-115页 |
5.2 系统部件的研制 | 第115-126页 |
5.2.1 表面波激励源的研究 | 第115-122页 |
5.2.1.1 指数渐变线的设计 | 第115-116页 |
5.2.1.2 平行平板波导的分析 | 第116-122页 |
5.2.2 慢波结构及软表面结构的设计 | 第122-126页 |
5.2.2.1 慢波结构 | 第123页 |
5.2.2.2 软表面结构 | 第123-126页 |
5.2.3 表面波接收装置 | 第126页 |
5.3 测试系统的集成 | 第126-127页 |
5.4 测试结果及误差分析 | 第127-134页 |
5.4.1 测试结果 | 第128-133页 |
5.4.2 误差来源及分析 | 第133-134页 |
5.5 两种测试系统的比对 | 第134-136页 |
5.5.1 测试方法的比对 | 第134-135页 |
5.5.2 测试结果的比对 | 第135-136页 |
5.6 本章小结 | 第136-137页 |
第六章 全文总结与展望 | 第137-140页 |
6.1 全文总结 | 第137-138页 |
6.2 后续工作展望 | 第138-140页 |
致谢 | 第140-142页 |
参考文献 | 第142-150页 |
攻读博士学位期间取得的成果 | 第150-152页 |