| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 第1章 绪论 | 第19-46页 |
| 1.1 电子分析天平及其称量原理 | 第19-23页 |
| 1.1.1 电子分析天平 | 第19-20页 |
| 1.1.2 电子分析天平的称量原理 | 第20-23页 |
| 1.2 高精密电磁力平衡传感器的研究进展 | 第23-26页 |
| 1.2.1 传统电磁力平衡传感器 | 第23-25页 |
| 1.2.2 单模块电磁力平衡传感器 | 第25-26页 |
| 1.3 电子分析天平信息预处理与补偿方法的研究进展 | 第26-35页 |
| 1.3.1 称量信息预处理方法研究进展 | 第26-28页 |
| 1.3.2 漂移补偿方法研究进展 | 第28-34页 |
| 1.3.3 非线性补偿方法研究进展 | 第34-35页 |
| 1.4 课题研究的背景及意义 | 第35-43页 |
| 1.4.1 国外电子分析天平研究现状 | 第35-38页 |
| 1.4.2 国内电子分析天平研究现状 | 第38-42页 |
| 1.4.3 课题研究背景及意义 | 第42-43页 |
| 1.5 本文的主要工作 | 第43-46页 |
| 第2章 电磁力平衡传感器的敏感部件分析与参数优化 | 第46-78页 |
| 2.1 引言 | 第46页 |
| 2.2 电磁力平衡传感器的构成与工作原理 | 第46-48页 |
| 2.2.1 电磁力平衡传感器的构成 | 第46-47页 |
| 2.2.2 电磁力平衡传感器的工作原理 | 第47-48页 |
| 2.3 机械称重机构设计优化 | 第48-58页 |
| 2.3.1 罗伯威尔结构 | 第48-49页 |
| 2.3.2 横梁组件设计优化 | 第49-51页 |
| 2.3.3 敏感部件簧片设计优化 | 第51-58页 |
| 2.4 位置检测机构设计优化 | 第58-62页 |
| 2.5 单线圈永磁体磁路机构设计优化 | 第62-76页 |
| 2.5.1 反馈线圈组件设计优化 | 第62-66页 |
| 2.5.2 永磁体磁路结构设计优化 | 第66-73页 |
| 2.5.3 基于ANSYS的永磁体磁路设计与仿真实验 | 第73-76页 |
| 2.6 本章小结 | 第76-78页 |
| 第3章 电子分析天平的温度漂移机理与补偿方法研究 | 第78-129页 |
| 3.1 引言 | 第78页 |
| 3.2 电子分析天平温度漂移机理分析 | 第78-87页 |
| 3.2.1 单线圈永磁体磁路机构温度漂移分析 | 第79-81页 |
| 3.2.2 机械称重机构温度漂移分析 | 第81-83页 |
| 3.2.3 位置检测机构温度漂移分析 | 第83-85页 |
| 3.2.4 恒流源接收电路温度漂移分析 | 第85-87页 |
| 3.3 电子分析天平温度漂移硬件补偿方法研究 | 第87-90页 |
| 3.3.1 机电平衡位置温度漂移补偿方法 | 第87-88页 |
| 3.3.2 恒流源接收电路温度漂移补偿方法 | 第88-90页 |
| 3.4 电子分析天平温度漂移软件补偿方法研究 | 第90-128页 |
| 3.4.1 基于多点温度检测的永磁体与线圈温度软测量模型 | 第90-115页 |
| 3.4.2 基于温度软测量模型的温度漂移特性试验 | 第115-119页 |
| 3.4.3 基于线性回归的温度漂移补偿方法 | 第119-128页 |
| 3.5 本章小结 | 第128-129页 |
| 第4章 电子分析天平的时间漂移机理与补偿方法研究 | 第129-144页 |
| 4.1 引言 | 第129页 |
| 4.2 电子分析天平时间漂移机理分析 | 第129-137页 |
| 4.2.1 永磁体自然退磁时间漂移分析 | 第129-132页 |
| 4.2.2 重力加速度变化时间漂移分析 | 第132-136页 |
| 4.2.3 机械结构及电子元器件时间漂移分析 | 第136-137页 |
| 4.3 电子分析天平时间漂移硬件补偿方法研究 | 第137-140页 |
| 4.3.1 永磁体磁性能改善 | 第137页 |
| 4.3.2 智能化校准方法 | 第137-138页 |
| 4.3.3 机械结构及电子元器件选型优化 | 第138-140页 |
| 4.4 电子分析天平时间漂移软件补偿方法研究 | 第140-143页 |
| 4.4.1 电子分析天平时间漂移特性试验 | 第140-141页 |
| 4.4.2 基于零位跟踪技术的时间漂移补偿方法 | 第141-143页 |
| 4.5 本章小结 | 第143-144页 |
| 第5章 电子分析天平的非线性影响与补偿方法研究 | 第144-174页 |
| 5.1 引言 | 第144页 |
| 5.2 电子分析天平非线性影响分析 | 第144-158页 |
| 5.2.1 线圈电流磁效应对非线性的影响 | 第145-155页 |
| 5.2.2 线圈电流热效应对非线性的影响 | 第155-158页 |
| 5.3 线圈电流磁效应与热效应对天平的非线性影响 | 第158-161页 |
| 5.3.1 线圈电流磁效应与热效应的非线性影响分析 | 第158-160页 |
| 5.3.2 线圈电流磁效应与热效应的非线性影响实验 | 第160-161页 |
| 5.4 电子分析天平非线性自动校正方法研究 | 第161-173页 |
| 5.4.1 电子分析天平机械结构及硬件参数设计优化 | 第161-167页 |
| 5.4.2 基于全量程修正的非线性校正方法 | 第167-173页 |
| 5.5 本章小结 | 第173-174页 |
| 第6章 精密电子分析天平的设计与检验 | 第174-198页 |
| 6.1 引言 | 第174页 |
| 6.2 精密电子分析天平设计 | 第174-180页 |
| 6.2.1 精密电子分析天平的构成与技术指标 | 第174-175页 |
| 6.2.2 PID调节电路设计 | 第175-177页 |
| 6.2.3 脉宽调制与脉宽计数电路设计 | 第177-178页 |
| 6.2.4 线圈分流控制电路设计 | 第178-179页 |
| 6.2.5 天平的工作流程 | 第179-180页 |
| 6.3 精密电子分析天平称量信息预处理方法研究 | 第180-188页 |
| 6.3.1 基于卡尔曼滤波器的数字滤波方法 | 第180-186页 |
| 6.3.2 基于多级阈值约束的称量信息判别方法 | 第186-188页 |
| 6.4 精密电子分析天平的计量性能检验 | 第188-192页 |
| 6.4.1 天平偏载误差检验 | 第189页 |
| 6.4.2 天平示值误差检验 | 第189-190页 |
| 6.4.3 天平重复性检验 | 第190-191页 |
| 6.4.4 天平鉴别力检验 | 第191-192页 |
| 6.5 精密电子分析天平的不确定度分析 | 第192-197页 |
| 6.5.1 精密电子分析天平的误差分析 | 第192-194页 |
| 6.5.2 精密电子分析天平的不确定度研究 | 第194-197页 |
| 6.6 本章小结 | 第197-198页 |
| 结论 | 第198-201页 |
| 参考文献 | 第201-214页 |
| 致谢 | 第214-215页 |
| 附录A 精密电子分析天平电路原理图 | 第215-216页 |
| 附录B 检定后的标准砝码误差 | 第216-218页 |
| 附录C 攻读博士学位期间发表的学位论文 | 第218-219页 |
| 附录D 攻读博士学位期间参加的科研项目 | 第219页 |
