摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-19页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
1.3 电容器安全规范测量机理分析 | 第14-17页 |
1.3.1 电容器安全规范检测应用中的物理模型研究 | 第14-16页 |
1.3.2 电容器安全规范检测原理 | 第16-17页 |
1.4 论文主要研究内容及章节安排 | 第17-18页 |
1.5 本章小结 | 第18-19页 |
第2章 系统总体方案设计 | 第19-31页 |
2.1 系统设计指标 | 第19-20页 |
2.1.1 高压源设计指标 | 第19页 |
2.1.2 电容绝缘电阻/漏电流检测性能设计指标 | 第19-20页 |
2.1.3 电容器耐压测试设计指标 | 第20页 |
2.2 系统方案设计 | 第20-29页 |
2.2.1 系统总体结构 | 第20-21页 |
2.2.2 极化高压源方案 | 第21-22页 |
2.2.3 电容充电方案 | 第22-23页 |
2.2.4 电容放电方案 | 第23-25页 |
2.2.5 电容漏电流检测方案 | 第25-28页 |
2.2.6 电容器耐压测试方案 | 第28-29页 |
2.3 本章小结 | 第29-31页 |
第3章 硬件系统设计 | 第31-63页 |
3.1 硬件系统总体架构 | 第31-32页 |
3.2 多档位倍压电路 | 第32-34页 |
3.3 恒流/恒压极化高压源 | 第34-43页 |
3.3.1 恒压原理 | 第34-35页 |
3.3.2 恒流原理 | 第35页 |
3.3.3 极化高压源原理分析 | 第35-40页 |
3.3.4 电路仿真结果 | 第40-43页 |
3.4 放电控制电路 | 第43-45页 |
3.4.1 电路原理分析 | 第43-44页 |
3.4.2 放电电流仿真分析 | 第44-45页 |
3.5 漏电流检测电路 | 第45-52页 |
3.5.1 I-V精密转换电路原理设计 | 第45-48页 |
3.5.2电路装配中的影响因素以及处理措施 | 第48-51页 |
3.5.3 程控放大及滤波电路 | 第51-52页 |
3.6 信号采集与控制电路 | 第52-57页 |
3.6.1 ADC采样电路 | 第52-54页 |
3.6.2 DAC电路 | 第54-55页 |
3.6.3 FPGA电路 | 第55-57页 |
3.7 主控单元 | 第57-59页 |
3.7.1 MCU及外围电路 | 第57-58页 |
3.7.2 存储电路 | 第58页 |
3.7.3 通信接口电路 | 第58-59页 |
3.8 供电系统 | 第59-61页 |
3.8.1 电源系统需求分析 | 第59-60页 |
3.8.2 电源系统设计 | 第60-61页 |
3.9 本章小结 | 第61-63页 |
第4章 系统软件设计 | 第63-77页 |
4.1 系统软件设计 | 第63页 |
4.2 FPGA软件设计 | 第63-71页 |
4.2.1 通信接口 | 第64-66页 |
4.2.2 数据采集模块 | 第66-68页 |
4.2.3 测量控制模块 | 第68-71页 |
4.3 主控制器软件设计 | 第71-74页 |
4.3.1 电容充放电过程控制 | 第71-73页 |
4.3.2 漏电流检测过程控制 | 第73-74页 |
4.4 测量误差补偿及校准 | 第74-76页 |
4.4.1 极化高压源校准 | 第74-75页 |
4.4.2 绝缘电阻测量校准 | 第75-76页 |
4.5 本章小结 | 第76-77页 |
第5章 系统调试与数据分析 | 第77-93页 |
5.1 系统调试 | 第77-87页 |
5.1.1 测试环境中的干扰源与解决方案 | 第77-78页 |
5.1.2 I-V转换电路稳定性与交流增益 | 第78-84页 |
5.1.3 恒压保持时间的影响 | 第84页 |
5.1.4 电容的介质吸收效应 | 第84-85页 |
5.1.5 ADC采样线性度改善 | 第85-87页 |
5.2 系统性能测试与分析 | 第87-91页 |
5.2.1 极化高压源充放电功能测试 | 第87-89页 |
5.2.2 极化高压源精度及纹波测试 | 第89-90页 |
5.2.3 负载为电阻时的系统精度与重复性测试 | 第90-91页 |
5.2.4 负载为电容时系统的的重复性测试 | 第91页 |
5.3 本章小结 | 第91-93页 |
结束语 | 第93-95页 |
参考文献 | 第95-97页 |
致谢 | 第97-99页 |
研究生阶段研究成果及发表学术论文情况 | 第99页 |