基于FPGA的星载RAM抗SEU的研究与设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题背景 | 第9-10页 |
| ·单粒子翻转效应的研究 | 第10-13页 |
| ·历史回顾 | 第10-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-13页 |
| ·论文内容的安排及研究的意义 | 第13页 |
| ·论文结构 | 第13-15页 |
| 第二章 SEU 及抗SEU 方法研究 | 第15-25页 |
| ·空间辐射环境 | 第15-16页 |
| ·宇宙射线 | 第15-16页 |
| ·地球辐射带 | 第16页 |
| ·各种辐射效应 | 第16-19页 |
| ·总剂量效应 | 第17页 |
| ·单粒子效应 | 第17-19页 |
| ·单粒子翻转效应的产生机制 | 第19-21页 |
| ·电荷淀积 | 第19-21页 |
| ·电荷收集 | 第21页 |
| ·抗单粒子翻转效应方法研究 | 第21-23页 |
| ·抗单粒子翻转效应方法 | 第21-22页 |
| ·从设计角度抗单粒子翻转效应的方法 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 扩展汉明码与 TMR 技术 | 第25-41页 |
| ·差错控制编码 | 第25-31页 |
| ·差错控制编码的基本原理 | 第25-26页 |
| ·差错控制编码的基本概念 | 第26-30页 |
| ·差错控制编码的选择 | 第30-31页 |
| ·扩展汉明码检错与纠错原理 | 第31-39页 |
| ·线性分组码 | 第31-35页 |
| ·扩展汉明码检错与纠错方法 | 第35-39页 |
| ·TMR 技术 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 ACTEL FPGA 设计介绍 | 第41-46页 |
| ·Actel FPGA | 第41-43页 |
| ·Actel FPGA 的优势 | 第41-42页 |
| ·ProAsic3 系列的特点 | 第42-43页 |
| ·Actel 公司FPGA 开发工具介绍 | 第43-45页 |
| ·仿真工具 | 第43-44页 |
| ·综合工具 | 第44页 |
| ·布局布线工具 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 抗 SEU 纠错电路的 FPGA 实现 | 第46-67页 |
| ·设计思想 | 第46-49页 |
| ·存储器配置方案 | 第46-47页 |
| ·抗 SEU 纠错电路的系统框图 | 第47-49页 |
| ·抗 SEU 纠错电路的特点 | 第49页 |
| ·纠错电路各功能模块的设计 | 第49-59页 |
| ·TMR 模块设计 | 第50-53页 |
| ·扩展汉明码模块设计 | 第53-57页 |
| ·总体电路设计 | 第57-59页 |
| ·电路综合与仿真 | 第59-66页 |
| ·电路仿真 | 第59-65页 |
| ·电路综合 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 抗 SEU 纠错电路的验证 | 第67-82页 |
| ·容错设计的可靠性验证 | 第67-68页 |
| ·验证电路的设计 | 第68-81页 |
| ·电路框图 | 第68页 |
| ·DSP 最小系统的设计 | 第68-75页 |
| ·FPGA 最小系统设计 | 第75-78页 |
| ·总体电路实现 | 第78-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第82-83页 |
| ·总结 | 第82页 |
| ·展望 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第86-87页 |
