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超高密度瓦记录关键问题研究与系统设计

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
1 绪论第10-27页
    1.1 引言第10-12页
    1.2 磁记录第12-18页
    1.3 超高密度磁记录面临的问题第18-20页
    1.4 超高密度瓦记录第20-25页
    1.5 选题依据与研究内容第25-27页
2 微磁学理论基础及建模第27-51页
    2.1 微磁学理论基础第27-30页
    2.2 三维有限元与微磁学第30-33页
    2.3 静磁场对翻转场分布的影响第33-37页
    2.4 斯通纳-沃法斯模型第37-40页
    2.5 微磁学的数值化计算方法第40-44页
    2.6 微磁学的计算规模第44-49页
    2.7 本章小结第49-51页
3 超高密度瓦记录面临的关键问题第51-100页
    3.1 有效写场与侧写场梯度第53-57页
    3.2 误码率第57-59页
    3.3 瓦磁头写角第59-76页
    3.4 圆角效应第76-81页
    3.5 斜交角效应第81-88页
    3.6 位元之间的静磁相互作用第88-92页
    3.7 磁头擦除带宽EBW第92-97页
    3.8 本章小结第97-100页
4 超高密度瓦记录系统设计第100-120页
    4.1 比特图案介质BPM第101-106页
    4.2 瓦磁头设计第106-114页
    4.3 热辅助瓦记录第114-118页
    4.4 本章小结第118-120页
5 瓦记录与ECC技术第120-135页
    5.1 ECC介质第120-127页
    5.2 ECC矫顽力的角相关性第127-128页
    5.3 瓦记录与ECC技术第128-134页
    5.4 本章小结第134-135页
6 总结与展望第135-139页
致谢第139-140页
参考文献第140-148页
附录1 攻读博士学位期间发表的学术论文目录第148页

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