低功耗高精度逐次逼近型模数转换器设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 SAR ADC的发展现状及趋势 | 第9-11页 |
| 1.2.1 SAR ADC国外发展现状 | 第10页 |
| 1.2.2 SAR ADC国内发展现状 | 第10页 |
| 1.2.3 SAR ADC发展趋势 | 第10-11页 |
| 1.3 论文内容安排 | 第11-12页 |
| 第2章 模数转换器概述 | 第12-24页 |
| 2.1 模数转换器基本工作原理 | 第12页 |
| 2.2 模数转换器分类 | 第12-18页 |
| 2.2.1 闪速型ADC | 第13-14页 |
| 2.2.2 折叠内插型ADC | 第14-15页 |
| 2.2.3 两步型ADC | 第15页 |
| 2.2.4 流水线型ADC | 第15页 |
| 2.2.5 逐次逼近型ADC | 第15-17页 |
| 2.2.6 Σ-ΔADC | 第17页 |
| 2.2.7 几种常见类型ADC性能比较 | 第17-18页 |
| 2.3 模数转换器性能参数 | 第18-23页 |
| 2.3.1 ADC静态参数 | 第18-21页 |
| 2.3.2 ADC动态参数 | 第21-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 SAR ADC关键结构设计与分析 | 第24-40页 |
| 3.1 传统SAR ADC的工作原理 | 第24-26页 |
| 3.2 DAC分析与设计 | 第26-33页 |
| 3.2.1 电流标定型DAC | 第26-27页 |
| 3.2.2 电压标定型DAC | 第27页 |
| 3.2.3 电荷标定型DAC | 第27-28页 |
| 3.2.4 DAC校准技术 | 第28-31页 |
| 3.2.5 课题提出的DAC结构 | 第31-33页 |
| 3.3 采样开关分析与设计 | 第33-38页 |
| 3.3.1 理想采样保持电路 | 第34-35页 |
| 3.3.2 采样开关非理想因素 | 第35-36页 |
| 3.3.3 常用MOS管开关 | 第36页 |
| 3.3.4 采样开关设计 | 第36-38页 |
| 3.4 比较器分析与设计 | 第38-39页 |
| 3.5 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 SAR ADC的版图设计及后仿真 | 第40-50页 |
| 4.1 版图非理想因素 | 第40-41页 |
| 4.1.1 闩锁效应 | 第40页 |
| 4.1.2 匹配性 | 第40-41页 |
| 4.1.3 天线效应 | 第41页 |
| 4.1.4 寄生效应 | 第41页 |
| 4.1.5 噪声干扰 | 第41页 |
| 4.2 SAR ADC关键结构版图设计 | 第41-45页 |
| 4.2.1 分离电容DAC版图设计 | 第41-44页 |
| 4.2.2 比较器版图设计 | 第44页 |
| 4.2.3 采样模块版图设计 | 第44-45页 |
| 4.2.4 数字电路版图设计 | 第45页 |
| 4.3 SAR ADC整体版图设计 | 第45-46页 |
| 4.4 SAR ADC后仿真 | 第46-48页 |
| 4.5 本章小结 | 第48-50页 |
| 第5章 SAR ADC测试 | 第50-58页 |
| 5.1 SAR ADC测试方法 | 第50-52页 |
| 5.1.1 SAR ADC静态参数测试 | 第50-51页 |
| 5.1.2 SAR ADC动态参数测试 | 第51-52页 |
| 5.2 SAR ADC测试方案 | 第52-54页 |
| 5.2.1 用于测试的印刷电路板设计 | 第52-53页 |
| 5.2.2 SAR ADC测试环境 | 第53-54页 |
| 5.3 SAR ADC测试结果 | 第54-57页 |
| 5.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
