| 中文摘要 | 第8-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第13-26页 |
| 1.1 前言 | 第13-14页 |
| 1.2 常用压电晶体的介绍 | 第14-16页 |
| 1.3 硅酸镓镧系列晶体简介 | 第16-18页 |
| 1.4 CNGS晶体及其同构型晶体的研究进展以及存在的问题 | 第18-20页 |
| 1.5 本论文的研究目的及内容 | 第20-22页 |
| 参考文献 | 第22-26页 |
| 第二章 Re:CNGS (Re= Nd,Er, Tm)晶体的生长 | 第26-39页 |
| 2.1 引言 | 第26页 |
| 2.2 生长方法与原理 | 第26-31页 |
| 2.2.1 提拉法简介 | 第26-27页 |
| 2.2.2 原料的准备 | 第27-28页 |
| 2.2.3 晶体生长过程 | 第28-31页 |
| 2.3 成果与改进 | 第31-32页 |
| 2.4 缺陷分析 | 第32-35页 |
| 2.4.1 开裂 | 第32-34页 |
| 2.4.2 包裹体 | 第34-35页 |
| 2.5 温场改进 | 第35-36页 |
| 2.6 晶体后处理 | 第36-37页 |
| 2.7 本章小结 | 第37-38页 |
| 参考文献 | 第38-39页 |
| 第三章 Re: CNGS晶体的结构与基本性能表征 | 第39-49页 |
| 3.1 组分与结构分析 | 第39-41页 |
| 3.1.1 X射线荧光光谱 | 第39-40页 |
| 3.1.2 X射线粉末衍射 | 第40-41页 |
| 3.2 晶体的热学性质 | 第41-46页 |
| 3.2.1 热膨胀 | 第42-43页 |
| 3.2.2 比热 | 第43-44页 |
| 3.2.3 热扩散 | 第44-45页 |
| 3.2.4 热传导 | 第45-46页 |
| 3.3 本章小结 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-49页 |
| 第四章 Re:CNGS电弹性能的表征 | 第49-59页 |
| 4.1 常温下压电性能测试和分析 | 第49-52页 |
| 4.2 高温压电性能测试和分析 | 第52-53页 |
| 4.3 Re:CNGS温度稳定性研究 | 第53-56页 |
| 4.3.1 切型计算 | 第53-55页 |
| 4.3.2 频率的温度稳定性 | 第55页 |
| 4.3.3 (Yxl)-30°切型介电、机电性能的温度稳定性 | 第55-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-59页 |
| 第五章 晶体电子结构的研究 | 第59-69页 |
| 5.1 化学元素组成分析 | 第59-60页 |
| 5.2 电子结构研究 | 第60-62页 |
| 5.3 第一性原理计算 | 第62-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 第六章 结论 | 第69-72页 |
| 6.1 主要工作内容 | 第69-71页 |
| 6.2 主要的创新点 | 第71页 |
| 6.3 有待进一步开展的工作 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第74-75页 |
| 攻读硕士学位期间获得的奖励 | 第75-76页 |
| 附件 | 第76-86页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第86页 |
