一种综合测试仪的设计与实现
摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第15-18页 |
1.1 研究背景与目的 | 第15页 |
1.2 国内外现状及发展趋势 | 第15-17页 |
1.3 本文主要工作 | 第17页 |
1.4 本论文的结构安排 | 第17-18页 |
第二章 综合测试仪总体设计 | 第18-23页 |
2.1 测试需求 | 第18-20页 |
2.1.1 测试对象 | 第18页 |
2.1.2 测试项目 | 第18-20页 |
2.2 测试原理 | 第20-21页 |
2.3 综合测试仪总体构架 | 第21-22页 |
2.3.1 主控板 | 第21-22页 |
2.3.2 发射板 | 第22页 |
2.3.3 接收板 | 第22页 |
2.3.4 上位机 | 第22页 |
2.4 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 综合测试仪软硬件设计与实现 | 第23-74页 |
3.1 硬件设计与实现 | 第23-34页 |
3.1.1 主控板 | 第23-29页 |
3.1.2 发射板 | 第29-31页 |
3.1.3 接收板 | 第31-33页 |
3.1.4 上位机 | 第33-34页 |
3.2 软件设计与实现 | 第34-73页 |
3.2.1 主控板 | 第34-72页 |
3.2.2 上位机 | 第72-73页 |
3.3 本章小结 | 第73-74页 |
第四章 实际测试和评估 | 第74-81页 |
4.1 综合测试仪输出信号测试 | 第74-78页 |
4.1.1 时变基带数据 | 第74-75页 |
4.1.2 接收灵敏度 | 第75-76页 |
4.1.3 接收频率容差 | 第76-77页 |
4.1.4 时间同步容差 | 第77-78页 |
4.1.5 连通率 | 第78页 |
4.1.6 控制接口 | 第78页 |
4.2 对被测主机进行测试 | 第78-79页 |
4.3 本章小结 | 第79-81页 |
第五章 结论 | 第81-83页 |
5.1 本文的主要贡献 | 第81页 |
5.2 下一步工作的展望 | 第81-83页 |
致谢 | 第83-84页 |
参考文献 | 第84-86页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第86-87页 |