摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·论文背景 | 第7页 |
·研究现状 | 第7-10页 |
·红外光的应用 | 第7-8页 |
·红外光谱探测技术的发展 | 第8-9页 |
·红外光谱的波段及近红外光谱用于探测的技术优缺点 | 第9页 |
·课题研究的意义 | 第9-10页 |
·研究的要点 | 第10页 |
·研究内容与论文结构 | 第10-13页 |
·研究内容 | 第10-11页 |
·文章结构 | 第11-13页 |
第二章 高温条件下光学材料透过率测试方法和分光技术 | 第13-21页 |
·光学材料对红外光谱探测技术的局限性 | 第13页 |
·常温环境下透过率测试方法 | 第13-15页 |
·单光路分光光度计透过率测量原理 | 第14页 |
·双光路分光光度计透过率测量原理 | 第14-15页 |
·单双光路分光光度计透过率方法比较 | 第15页 |
·国外红外透过率测设备方法介绍 | 第15-17页 |
·PTB 透过率测量装置 | 第15-16页 |
·NIST 透过率测量装置 | 第16-17页 |
·高温环境下光学材料透过率测试方法 | 第17页 |
·分光技术 | 第17-21页 |
·光源选择及制冷 | 第17-19页 |
·红外光谱-红外光源的分光 | 第19-21页 |
第三章 强红外光背景下红外微弱信号探测技术 | 第21-31页 |
·20℃~500℃强红外背景的干扰波段 | 第21页 |
·红外光微弱信号同步检波技术 | 第21-22页 |
·光调制 | 第21页 |
·锁相环 | 第21-22页 |
·高温透过率测试系统电学设计 | 第22-25页 |
·主控制系统的设计 | 第22-23页 |
·Si 前置放大器设计要求 | 第23-24页 |
·Si 前置放大电路设计 | 第24-25页 |
·高温透过率测试技术 | 第25-27页 |
·高温环境下透过率测量原理 | 第25-26页 |
·高温环境下透过率测量装置电学系统具体设计 | 第26-27页 |
·高温光学材料透过率测量分系统构成 | 第27-29页 |
·光源单色系统 | 第27页 |
·精密温控系统 | 第27页 |
·探测器接受系统 | 第27-29页 |
·测量系统干扰屏蔽 | 第29-31页 |
第四章 透过率测试数据分析 | 第31-41页 |
·光学材料红外光透过率测量结果 | 第31-36页 |
·透过率与温度关系 | 第31页 |
·装置重复性测量结果 | 第31-32页 |
·蓝宝石高温透过率测量结果 | 第32-33页 |
·Ge 高温透过率测量结果 | 第33-34页 |
·ZnSe 高温透过率测量结果 | 第34-36页 |
·测量结果分析 | 第36页 |
·透过率测试系统和温度系数不确定分析 | 第36-41页 |
·透过率测量装置不确定度 | 第36-39页 |
·透过率温度系统测量不确定度 | 第39-41页 |
第五章 结论 | 第41-43页 |
·解决的问题 | 第41页 |
·存在问题 | 第41-43页 |
致谢 | 第43-45页 |
参考文献 | 第45-47页 |
研究成果 | 第47-49页 |
附录 A | 第49-50页 |