激光聚变中硬X射线的光谱诊断
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-21页 |
| ·激光聚变中硬X射线的被动诊断 | 第11-13页 |
| ·激光聚变中硬X射线的主动诊断 | 第13-15页 |
| ·硬X射线的诊断设备 | 第15-19页 |
| 参考文献 | 第19-21页 |
| 第2章 滤片堆栈谱仪 | 第21-47页 |
| ·概要 | 第21页 |
| ·谱仪机械设计 | 第21-23页 |
| ·成像板的性质 | 第23-29页 |
| ·成像板的工作原理 | 第23-25页 |
| ·成像板的材料构成 | 第25-26页 |
| ·成像板的物理性质 | 第26-29页 |
| ·响应函数 | 第29-33页 |
| ·Geant4蒙卡模拟计算响应函数 | 第30-32页 |
| ·响应函数的截止 | 第32-33页 |
| ·反解能谱 | 第33-36页 |
| ·最小方差法 | 第34页 |
| ·最大熵方法 | 第34-35页 |
| ·解谱程序 | 第35-36页 |
| ·背光照相实验 | 第36-43页 |
| ·实验安排 | 第36-38页 |
| ·实验结果 | 第38-43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 第3章 透射式柱面弯晶谱仪 | 第47-75页 |
| ·概要 | 第47-48页 |
| ·三维衍射光路的理论计算 | 第48-52页 |
| ·晶体衍射位置 | 第48-50页 |
| ·记录面上的像点位置 | 第50-51页 |
| ·谱线弯曲 | 第51-52页 |
| ·谱仪的理论和机械设计 | 第52-57页 |
| ·光路设计 | 第52-54页 |
| ·谱仪机械设计 | 第54-57页 |
| ·谱仪性能的理论计算 | 第57-63页 |
| ·弯晶衍射效率 | 第57-59页 |
| ·谱仪的本征探测效率 | 第59-61页 |
| ·能量分辨率 | 第61-63页 |
| ·弯晶谱仪的能量刻度 | 第63-68页 |
| ·公式拟合能量刻度 | 第64-66页 |
| ·单滤片模拟计算能量刻度 | 第66页 |
| ·单滤片刻度方法的实验验证 | 第66-68页 |
| ·测谱实验 | 第68-71页 |
| ·Mo靶X光机光谱 | 第68-69页 |
| ·能量分辨率的提升 | 第69-71页 |
| ·光源强度的估计 | 第71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 第4章 总结及展望 | 第75-79页 |
| ·工作总结 | 第75-76页 |
| ·工作展望 | 第76-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第81页 |
