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可扩展的高速信号处理核心板硬件设计

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-9页
第1章 绪论第9-15页
   ·论文研究背景和意义第9-10页
   ·论文相关技术简介第10-13页
     ·可编程逻辑技术第10-11页
     ·SOPC 技术第11-12页
     ·基于 Verilog 的数字设计技术第12页
     ·μC/OS-II 实时操作系统(RTOS)技术第12页
     ·基于套接字的网络编程技术第12-13页
   ·论文内容安排第13-15页
第2章 核心板硬件设计第15-22页
   ·硬件总体设计第15页
   ·核心器件选型第15-18页
   ·硬件电路各模块设计第18-21页
     ·电源电路设计第18-19页
     ·配置电路设计第19-20页
     ·PCB 设计分析及资源扩展考虑第20-21页
   ·本章小结第21-22页
第3章 验证功能的硬件及逻辑设计第22-44页
   ·应用开发流程第22页
   ·验证功能的硬件电路设计第22-26页
     ·数据采集电路设计第23-24页
     ·网络通信电路设计第24-26页
   ·逻辑平台总体设计第26-27页
   ·SOPC 设计第27-31页
     ·SOPC Builder 介绍第27页
     ·SOPC IP 核使用及设置第27-30页
     ·MegaFunction 定制 PLL 模块第30-31页
   ·各逻辑模块 VERILOG 设计及仿真第31-43页
     ·FFT 控制器设计及仿真第31-37页
     ·I2C 控制器设计及仿真第37-39页
     ·I2S 控制器设计及仿真第39-41页
     ·SRAM 控制器设计及仿真第41-43页
   ·本章小结第43-44页
第4章 验证功能的软件设计第44-53页
   ·驱动程序设计第44-47页
     ·FFT 驱动设计第44-45页
     ·I2C 驱动编写第45页
     ·SRAM 驱动编写第45-46页
     ·网络通信驱动修改第46-47页
   ·应用程序设计第47-52页
     ·μC/OS-II 系统相关技术介绍第47-48页
     ·应用程序设计第48-52页
   ·本章小结第52-53页
第5章 验证功能的系统测试及核心板性能分析第53-61页
   ·系统测试环境介绍第53页
   ·测试结果第53-56页
     ·数据采集测试结果第53-54页
     ·FFT 测试结果第54页
     ·SRAM 测试结果第54-55页
     ·网络测试结果第55-56页
   ·核心板性能分析第56-60页
   ·本章小结第60-61页
结论第61-62页
参考文献第62-66页
致谢第66-67页
附录 A第67-68页

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