HLS储存环束流负载效应和高频系统相关问题的研究
摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-11页 |
第一章 引言 | 第11-27页 |
·论文研究工作的意义 | 第11-12页 |
·束腔相互作用研究的历史和当前发展 | 第12-21页 |
·HLS机器参数 | 第21-23页 |
·论文研究工作简介 | 第23-27页 |
第二章 束腔相互作用表达方法的总结与改进 | 第27-45页 |
·束流负载效应的基本理论 | 第27-29页 |
·束腔相互作用的等效模型 | 第29-32页 |
·束腔相互作用的矢量分析 | 第32-33页 |
·束腔相互作用的传统推导方法 | 第33-34页 |
·推导方法的改进 | 第34-38页 |
·ROBINSON不稳定性 | 第38-43页 |
·总结 | 第43-45页 |
第三章 四极管发射机的阻抗特性 | 第45-59页 |
·源与负载不同匹配状态下的功率关系 | 第46-47页 |
·四极管发射机的阻抗特性 | 第47-53页 |
·四极管发射机与高频腔直接相连 | 第53-54页 |
·传输线电长度的影响 | 第54-58页 |
·总结 | 第58-59页 |
第四章 HLS高频系统 | 第59-78页 |
·HLS高频系统构成 | 第59-62页 |
·高频腔分路阻抗的测量 | 第62-65页 |
·环行器打火现象的分析和快速保护电路研制 | 第65-72页 |
·传输线反射的影响 | 第72-76页 |
·总结 | 第76-78页 |
第五章 注入过程重束流负载效应问题的研究和解决 | 第78-107页 |
·注入阶段的重束流负载效应 | 第79-84页 |
·予失谐角与束流稳定的关系 | 第84-87页 |
·注入过程束流丢失问题的分析和解决 | 第87-91页 |
·注入问题的解决—幅控环参数调整 | 第91-101页 |
·储存环的合理Y值 | 第101-103页 |
·进一步改进HLS机器性能的措施 | 第103-107页 |
第六章 单束团运行模式的实现和单束团不稳定性测量 | 第107-117页 |
·RFKO系统构成 | 第107-109页 |
·单束团运行模式 | 第109-110页 |
·其它填充模式 | 第110-111页 |
·单束团不稳定性的频谱测量 | 第111-113页 |
·多束团频谱测量 | 第113-116页 |
·总结 | 第116-117页 |
第七章 高频调制实验 | 第117-127页 |
·高频调制原理简述 | 第117-120页 |
·高频调制对束流品质的改善 | 第120-122页 |
·HLS单倍调幅的实验结果 | 第122-126页 |
·总结 | 第126-127页 |
第八章 调频运行方式的研究 | 第127-133页 |
·调频方式的特点 | 第127-129页 |
·调频+调谐方式的技术方案 | 第129页 |
·调频注入实验 | 第129-131页 |
·锁相环电路设计 | 第131-132页 |
·总结 | 第132-133页 |
结束语 | 第133-135页 |
1.论文研究工作总结 | 第133-134页 |
2.展望 | 第134-135页 |
致谢 | 第135-136页 |
已完成论文情况 | 第136页 |