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HLS储存环束流负载效应和高频系统相关问题的研究

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-11页
第一章 引言第11-27页
   ·论文研究工作的意义第11-12页
   ·束腔相互作用研究的历史和当前发展第12-21页
   ·HLS机器参数第21-23页
   ·论文研究工作简介第23-27页
第二章 束腔相互作用表达方法的总结与改进第27-45页
   ·束流负载效应的基本理论第27-29页
   ·束腔相互作用的等效模型第29-32页
   ·束腔相互作用的矢量分析第32-33页
   ·束腔相互作用的传统推导方法第33-34页
   ·推导方法的改进第34-38页
   ·ROBINSON不稳定性第38-43页
   ·总结第43-45页
第三章 四极管发射机的阻抗特性第45-59页
   ·源与负载不同匹配状态下的功率关系第46-47页
   ·四极管发射机的阻抗特性第47-53页
   ·四极管发射机与高频腔直接相连第53-54页
   ·传输线电长度的影响第54-58页
   ·总结第58-59页
第四章 HLS高频系统第59-78页
   ·HLS高频系统构成第59-62页
   ·高频腔分路阻抗的测量第62-65页
   ·环行器打火现象的分析和快速保护电路研制第65-72页
   ·传输线反射的影响第72-76页
   ·总结第76-78页
第五章 注入过程重束流负载效应问题的研究和解决第78-107页
   ·注入阶段的重束流负载效应第79-84页
   ·予失谐角与束流稳定的关系第84-87页
   ·注入过程束流丢失问题的分析和解决第87-91页
   ·注入问题的解决—幅控环参数调整第91-101页
   ·储存环的合理Y值第101-103页
   ·进一步改进HLS机器性能的措施第103-107页
第六章 单束团运行模式的实现和单束团不稳定性测量第107-117页
   ·RFKO系统构成第107-109页
   ·单束团运行模式第109-110页
   ·其它填充模式第110-111页
   ·单束团不稳定性的频谱测量第111-113页
   ·多束团频谱测量第113-116页
   ·总结第116-117页
第七章 高频调制实验第117-127页
   ·高频调制原理简述第117-120页
   ·高频调制对束流品质的改善第120-122页
   ·HLS单倍调幅的实验结果第122-126页
   ·总结第126-127页
第八章 调频运行方式的研究第127-133页
   ·调频方式的特点第127-129页
   ·调频+调谐方式的技术方案第129页
   ·调频注入实验第129-131页
   ·锁相环电路设计第131-132页
   ·总结第132-133页
结束语第133-135页
 1.论文研究工作总结第133-134页
 2.展望第134-135页
致谢第135-136页
已完成论文情况第136页

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