| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 前言 | 第9-11页 |
| 第二章 实验方法及原理 | 第11-29页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·试样的制备及处理 | 第12-14页 |
| ·原料的配料和熔炼 | 第12-13页 |
| ·合金试样的均匀化处理 | 第13页 |
| ·试样的淬冷 | 第13页 |
| ·粉末试样的制备 | 第13-14页 |
| ·金相试样的制备 | 第14页 |
| ·物相分析技术 | 第14-19页 |
| ·X射粉末线衍射法 | 第14-16页 |
| ·差热分析法(DTA) | 第16-17页 |
| ·金相分析法 | 第17页 |
| ·电子显微分析法 | 第17-19页 |
| ·相界的测定 | 第19-20页 |
| ·相消失法 | 第19页 |
| ·点阵常数法 | 第19-20页 |
| ·关于PDF卡片 | 第20-21页 |
| ·X射线粉末衍射谱的指标化 | 第21-26页 |
| ·比值法 | 第21-22页 |
| ·分析法 | 第22-23页 |
| ·图解法 | 第23-24页 |
| ·计算机尝试法 | 第24页 |
| ·其他 | 第24-25页 |
| ·指标化结果正确性判据 | 第25-26页 |
| ·晶体点阵常数的精确测定 | 第26-29页 |
| ·、内标法 | 第26页 |
| ·、图形外推法 | 第26-27页 |
| ·、最小二乘法 | 第27-29页 |
| 第三章 GD-SB-TI三元系合金相图500℃等温截面的测定 | 第29-34页 |
| ·历史数据 | 第29-32页 |
| ·二元相图及二元合金化合物 | 第29-32页 |
| ·三元合金化合物 | 第32页 |
| ·实验过程 | 第32-34页 |
| ·原料以及所用设备 | 第32-33页 |
| ·实验步骤 | 第33-34页 |
| 第四章 实验结果及讨论 | 第34-39页 |
| ·二元相分析 | 第34-35页 |
| ·Gd-Sb二元系分析 | 第34页 |
| ·Gd-Ti二元系分析 | 第34页 |
| ·Sb-Ti二元系分析 | 第34-35页 |
| ·GD—SB—TI三元合金系500℃等温截面 | 第35-38页 |
| ·总结: | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-42页 |
| 附录 | 第42-55页 |
| 1 附表 | 第42-44页 |
| 2 附图 | 第44-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 攻读硕士学位期间已发表和待发表的学术论文目录 | 第56页 |