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CMOS图像传感器中高性能流水线模数转换器研究

中文摘要第1-3页
ABSTRACT第3-7页
第一章 前言第7-12页
   ·设计背景第7页
   ·本文的结构第7-8页
   ·ADC 性能指标第8-12页
     ·精度(Resolution)第8页
     ·非线性(Nonlinearity)第8-9页
     ·信噪比(SNR)第9-10页
     ·信号对噪声加失真的比(SNDR)第10页
     ·动态范围(Dynamic Range)第10页
     ·无杂散动态范围(SFDR)第10-11页
     ·输入带宽(Input Bandwidth)第11页
     ·输入信号摆幅(Input Signal Swing)第11-12页
第二章 高速ADC 的原理和各种结构的比较第12-21页
   ·高速ADC 的一般结构第12页
   ·闪烁型(Flash)ADC第12-13页
   ·折叠型(Folding)/内插法(Interpolating ) ADC第13-16页
     ·折叠型ADC第13-16页
     ·插补技术(Interpolating)第16页
   ·两步(Two-Step)ADC 和子区型(Subranging) ADC第16-18页
     ·两步ADC第16-17页
     ·子区型ADC第17-18页
   ·流水线型(pipeline)ADC第18-21页
     ·流水线ADC 精度和速度的优势第19-20页
     ·流水线中MDAC 的实现第20-21页
第三章 每级1.5 位流水线ADC 系统建模第21-35页
   ·每级1.5 位流水线ADC 的理想系统的实现第21-23页
     ·流水线一级的Matlab 实现第21-22页
     ·每级1.5 位流水线系统功能的验证第22-23页
   ·非理想因素对每级1.5 位流水线ADC 系统的影响第23页
   ·噪声(Noise)第23-27页
     ·量化噪声第23-25页
     ·热噪声第25-26页
     ·系统仿真确定各级采样电容的大小第26-27页
   ·比较器的失调误差(Comparator Offset)第27-30页
   ·余数放大器的增益误差(Residue Amplifier Gain Error)第30-35页
     ·余数放大器的误差对系统性能的影响第30-31页
     ·静态的增益误差第31-32页
     ·动态的增益误差第32-33页
     ·数字校准技术第33-35页
第四章 每级1.5 位,50 兆流水线ADC 的电路实现第35-59页
   ·每级1.5 位,50M 流水线ADC 的电路级模块划分第35页
   ·比较器电路第35-39页
     ·比较器电路结构的比较和选择第35-37页
     ·基于锁存器的比较器电路第37-39页
   ·开关电容放大器第39-54页
     ·采样保持电路第39-46页
     ·余数放大器第46-54页
   ·数模转换模块第54-55页
   ·时钟产生电路第55-56页
   ·数字逻辑电路第56-59页
     ·锁存器电路第56-58页
     ·数字矫正逻辑电路第58-59页
第五章 提高系统性能的关键技术第59-67页
   ·主要采用的技术第59页
   ·采样开关的改进第59-64页
     ·固定栅极和源极电压的采样开关第61-63页
     ·设计时考虑的一些问题第63-64页
   ·下极板采样技术第64-67页
     ·电荷注入效应第64-65页
     ·下极板采样技术第65-66页
     ·消除比较器的反馈噪声第66-67页
第六章 版图和晶体管级仿真结果第67-74页
   ·版图需要考虑的一些基本问题第67-70页
     ·噪声的隔离第67-69页
     ·匹配问题第69-70页
   ·电路的布局和最后的版图第70-71页
   ·仿真方法和结果第71-74页
     ·仿真注意的问题第71-72页
     ·仿真结果第72-74页
第七章 总结和展望第74-75页
   ·总结第74页
   ·展望第74-75页
参考文献第75-78页
发表论文和科研情况说明第78-79页
致谢第79页

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