磁致伸缩参数测量仪的研制
第一章 绪论 | 第1-11页 |
·磁致伸缩材料的发展及现状 | 第7-8页 |
·磁致伸缩参数测量仪的应用 | 第8-9页 |
·本文主要的工作 | 第9-11页 |
第二章 磁致伸缩参数测量仪的工作原理 | 第11-20页 |
·磁致伸缩效应 | 第11-13页 |
·磁致伸缩参数测试方法 | 第13-18页 |
·应变片法 | 第13-14页 |
·光杠杆法 | 第14-16页 |
·光干涉法 | 第16-17页 |
·微位移传递法 | 第17-18页 |
·微位移传感器的应用 | 第18-20页 |
第三章 整体结构概述 | 第20-24页 |
·主机的功能介绍及技术指标 | 第21-22页 |
·电磁铁及电磁铁电源技术指标 | 第22页 |
·软件部分概述 | 第22-24页 |
第四章 硬件电路系统的设计 | 第24-58页 |
·磁场测量 | 第25-30页 |
·霍尔效应 | 第25-26页 |
·霍尔元件结构和主要特征参数 | 第26-28页 |
·测量电路及分析 | 第28-30页 |
·磁通测量 | 第30-34页 |
·基本原理 | 第30-31页 |
·点线圈 | 第31-32页 |
·积分器 | 第32-33页 |
·ICL7650 信号放大器 | 第33-34页 |
·样品伸缩量输入 | 第34-36页 |
·微处理器AT89C52 | 第36-42页 |
·主要特性 | 第36-37页 |
·管脚说明 | 第37-39页 |
·定时器/计数器 | 第39-40页 |
·全双工串行I/O | 第40-41页 |
·AT89C52 中断 | 第41-42页 |
·数据采集及处理 | 第42-44页 |
·A/D 转换MAX110 的工作原理 | 第42-43页 |
·MAX110 在仪器中的工作电路 | 第43-44页 |
·参数的设定及存贮 | 第44-48页 |
·非易失性存储器X2C45 | 第45-46页 |
·X24C45 的指令集及工作时序 | 第46-47页 |
·X24C45 中所存储的参数 | 第47页 |
·X24C45 的主要工作方法 | 第47-48页 |
·显示及键盘接口 | 第48-53页 |
·8279 的工作原理及应用 | 第48-50页 |
·8155 的工作原理及应用 | 第50-53页 |
·串行通信口 | 第53-54页 |
·电磁铁电源 | 第54-58页 |
第五章 软件系统的设计 | 第58-74页 |
·主机监控程序的设计 | 第58-61页 |
·主机的工作流程 | 第58-59页 |
·与微机的通信方式的约定 | 第59-61页 |
·微机监控程序的设计 | 第61-74页 |
·微机监控程序的工作流程 | 第61-63页 |
·Measurement Studio 功能简介 | 第63-64页 |
·CWGraph 控件的基本功能 | 第64-69页 |
·软件的界面及操作说明 | 第69-72页 |
·仪器的测量结果 | 第72-74页 |
结论 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-77页 |
中文摘要 | 第77-79页 |
Abstract | 第79-82页 |
致谢 | 第82页 |