数字集成电路测试系统软件设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·课题的背景和意义 | 第9页 |
| ·数字集成电路概述 | 第9-12页 |
| ·集成电路的发展 | 第9-10页 |
| ·集成电路的分类与制造工艺 | 第10-11页 |
| ·集成电路的设计 | 第11-12页 |
| ·集成电路测试 | 第12页 |
| ·数字集成电路测试的发展及国内外现状 | 第12-14页 |
| ·集成电路测试系统软件平台发展现状 | 第14-15页 |
| ·本课题研究的目的 | 第15页 |
| ·本文的研究内容和章节安排 | 第15-16页 |
| 第二章 数字集成电路测试系统总体简介 | 第16-27页 |
| ·系统设计目标 | 第16页 |
| ·系统设计原则 | 第16页 |
| ·系统设计原理 | 第16-19页 |
| ·数字集成电路测试系统硬件结构 | 第19-21页 |
| ·系统硬件总体结构 | 第19-20页 |
| ·硬件各个模块简介 | 第20-21页 |
| ·数字集成电路测试系统软件 | 第21-25页 |
| ·软件开发环境 | 第21-22页 |
| ·软件总体架构 | 第22-24页 |
| ·系统软件流程 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 上位机软件设计 | 第27-55页 |
| ·上位机软件架构 | 第27-29页 |
| ·上位机功能 | 第29-31页 |
| ·工程师模块设计 | 第31-44页 |
| ·工程师模块软件流程 | 第32-33页 |
| ·测试工程参数设置 | 第33-42页 |
| ·工程师模块参数下载 | 第42-43页 |
| ·交流参数测试 | 第43-44页 |
| ·基于 Quartus Ⅱ 的测试矢量导入 | 第44-49页 |
| ·Quartus Ⅱ 介绍 | 第44-45页 |
| ·正则表达式 | 第45-46页 |
| ·测试矢量导入 | 第46-49页 |
| ·BIN 文件生成 | 第49-51页 |
| ·数据库设计 | 第51-54页 |
| ·数据库设计原则和技巧 | 第51-52页 |
| ·测试系统数据库建表 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 USB 驱动和下位机程序设计 | 第55-67页 |
| ·USB 驱动程序设计 | 第55-60页 |
| ·USB 发送数据 | 第55-56页 |
| ·USB 接收数据 | 第56-58页 |
| ·动态链接库 | 第58-59页 |
| ·USB 驱动在系统中的调用 | 第59-60页 |
| ·ARM 程序设计 | 第60-66页 |
| ·ARM 主程序设计 | 第60-62页 |
| ·ARM 程序中的数据接收与上传 | 第62-65页 |
| ·ARM 程序技术要点 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 软件调试 | 第67-75页 |
| ·软件调试的目标和原则 | 第67-68页 |
| ·软件运行环境 | 第68页 |
| ·软件调试 | 第68-74页 |
| ·软件调试步骤 | 第68-69页 |
| ·各个模块单独调试 | 第69-72页 |
| ·软硬件联合调试 | 第72-73页 |
| ·针对74LS164 的调试 | 第73-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第六章 总结与展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第79-80页 |
