IPC-205B型扫描隧道显微镜的成像研究及其性能分析
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| ·扫描隧道显微镜的发展和现状 | 第8-9页 |
| ·STM 的发展历史 | 第8页 |
| ·STM 的现状 | 第8-9页 |
| ·STM 的优点和局限性 | 第9-11页 |
| ·STM 的优点 | 第9-10页 |
| ·STM 的局限性 | 第10-11页 |
| ·STM 的主要应用领域 | 第11-14页 |
| ·在表面分析及其凝聚态基础理论研究中的应用 | 第11-12页 |
| ·在生命科学中的应用 | 第12-13页 |
| ·在纳米加工领域中的应用 | 第13-14页 |
| ·本文的研究内容 | 第14-16页 |
| 2 扫描隧道显微镜工作原理 | 第16-20页 |
| ·隧道效应理论 | 第16-19页 |
| ·扫描隧道显微镜工作原理 | 第19-20页 |
| 3 IPC-205B型扫描隧道显微镜系统 | 第20-23页 |
| ·镜体 | 第20-21页 |
| ·扫描与数据采集系统 | 第21-22页 |
| ·计算机工作站 | 第22-23页 |
| 4 IPC-205B型扫描隧道显微镜成像 | 第23-38页 |
| ·成像原理 | 第23-24页 |
| ·成像方式 | 第24-25页 |
| ·恒电流模式 | 第24-25页 |
| ·恒高模式 | 第25页 |
| ·扫描隧道谱(STS) | 第25页 |
| ·扫描控制与图像采集 | 第25-27页 |
| ·扫描控制 | 第25-27页 |
| ·图像采集 | 第27页 |
| ·图像显示与处理 | 第27-35页 |
| ·二维显示成像 | 第27-29页 |
| ·图像保存 | 第29-30页 |
| ·三维显示成像 | 第30-31页 |
| ·图像处理 | 第31-35页 |
| ·STM 图像的解释 | 第35-38页 |
| ·人眼对灰度的判断 | 第35-37页 |
| ·图像的灰度、亮度与对比度 | 第37页 |
| ·相关灰度处理 | 第37-38页 |
| 5 IPC-205B型扫描隧道显微镜的性能分析 | 第38-53页 |
| ·STM.IPC-205B特点及分辨率 | 第38页 |
| ·国内外STM 的特点 | 第38页 |
| ·STM.IPC-205B特点 | 第38页 |
| ·影响STM 检测性能的因素 | 第38-49页 |
| ·针尖结构对STM 成像的影响 | 第38-43页 |
| ·信号处理的影响 | 第43-45页 |
| ·图像处理的影响 | 第45-47页 |
| ·系统震动与电学屏蔽 | 第47-49页 |
| ·STM.IPC-205B性能的检测实验 | 第49-53页 |
| ·重复性扫描检测及其精度 | 第50-53页 |
| 6 IPC-205B型扫描隧道显微镜的应用进展 | 第53-62页 |
| ·纳米绝缘材料的STM 检测 | 第53-56页 |
| ·检测机理分析 | 第53-55页 |
| ·应用实验 | 第55-56页 |
| ·结论 | 第56页 |
| ·分子形态学研究 | 第56-62页 |
| ·CdIn_2O_5 薄膜表面的分子形态研究 | 第57-58页 |
| ·V_2O_5 薄膜表面分子形态的研究 | 第58-59页 |
| ·氧化锌(ZnO)薄膜的微观结构分析 | 第59-61页 |
| ·研究结论 | 第61-62页 |
| 7 结论与展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 附录作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第66-67页 |
| 独创性声明 | 第67页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第67页 |
