第一章 绪论 | 第1-12页 |
·引言 | 第7页 |
·课题来源及背景 | 第7-8页 |
·课题来源 | 第7-8页 |
·课题研究的背景 | 第8页 |
·本课题研究的历史及现状 | 第8-11页 |
·可靠性预计发展历史与现状 | 第8-9页 |
·FMECA 发展历史与现状 | 第9-10页 |
·国内外数控系统可靠性研究发展现状及存在的问题 | 第10-11页 |
·论文选题的目的 | 第11页 |
·论文的主要工作 | 第11-12页 |
第二章 基于神经网络的数控系统可靠性预计与评估 | 第12-33页 |
·引言 | 第12页 |
·可靠性预计的目的与意义 | 第12-13页 |
·可靠性预计的目的 | 第12-13页 |
·可靠性预计的意义 | 第13页 |
·基于神经网络的数控系统可靠性预计 | 第13-27页 |
·数控系统的功能框图组成 | 第13-15页 |
·数控系统可靠性预计的BP 神经网络模型建立 | 第15-16页 |
·数控系统可靠性预计神经元选择 | 第16-18页 |
·数控系统可靠性预计及评估数据采集 | 第18-23页 |
·预计评估前的影响因子确定 | 第23-24页 |
·基于BP 神经网络的数控系统可靠性预计(评估)过程关键步骤讨论 | 第24-27页 |
·预计模型的实际应用 | 第27-32页 |
·小结 | 第32-33页 |
第三章 数控系统 FMECA 分析 | 第33-54页 |
·引言 | 第33页 |
·数控系统的FMECA 分析 | 第33-46页 |
·故障部位分析 | 第35-36页 |
·故障模式分析 | 第36-38页 |
·故障原因分析 | 第38-40页 |
·子系统故障模式、影响及原因分析 | 第40-46页 |
·数控系统故障模式RPN 分析 | 第46-50页 |
·风险优先数法(RPN) | 第46-48页 |
·数控系统的RPN 分析 | 第48-50页 |
·基于BP 神经网络的数控系统智能FMECA 框架研究 | 第50-53页 |
·BP 神经网络和FMECA 的结合 | 第50-51页 |
·神经网络与FMECA 集成框架 | 第51-53页 |
·智能FMECA 分析的流程 | 第53页 |
·小结 | 第53-54页 |
第四章 数控系统开发过程中的可靠性保证措施 | 第54-68页 |
·引言 | 第54-55页 |
·数控系统开发过程外购/外协件采购规范 | 第55-59页 |
·供应商要求与职责 | 第55-57页 |
·供应商评价 | 第57页 |
·设立供应商质量巡检员 | 第57页 |
·供货一致性检验 | 第57-58页 |
·供货质量问题 | 第58页 |
·对供应商评审要求 | 第58-59页 |
·数控系统可靠性设计措施 | 第59-67页 |
·数控系统元器件和电路的降额设计 | 第60-61页 |
·数控系统的三防设计 | 第61页 |
·数控系统的热设计 | 第61-62页 |
·数控系统的抗振动、冲击设计 | 第62-63页 |
·数控系统电磁兼容性设计 | 第63-64页 |
·数控系统可维性设计 | 第64-65页 |
·数控系统印制电路板可靠性设计 | 第65-66页 |
·数控系统软件可靠性设计常用的方法及保证措施 | 第66-67页 |
·小结 | 第67-68页 |
第五章 结论 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-72页 |
摘要 | 第72-74页 |
Abstract | 第74-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
导师及作者简介 | 第78页 |