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数控系统开发过程可靠性技术研究及应用

第一章 绪论第1-12页
   ·引言第7页
   ·课题来源及背景第7-8页
     ·课题来源第7-8页
     ·课题研究的背景第8页
   ·本课题研究的历史及现状第8-11页
     ·可靠性预计发展历史与现状第8-9页
     ·FMECA 发展历史与现状第9-10页
     ·国内外数控系统可靠性研究发展现状及存在的问题第10-11页
   ·论文选题的目的第11页
   ·论文的主要工作第11-12页
第二章 基于神经网络的数控系统可靠性预计与评估第12-33页
   ·引言第12页
   ·可靠性预计的目的与意义第12-13页
     ·可靠性预计的目的第12-13页
     ·可靠性预计的意义第13页
   ·基于神经网络的数控系统可靠性预计第13-27页
     ·数控系统的功能框图组成第13-15页
     ·数控系统可靠性预计的BP 神经网络模型建立第15-16页
     ·数控系统可靠性预计神经元选择第16-18页
     ·数控系统可靠性预计及评估数据采集第18-23页
     ·预计评估前的影响因子确定第23-24页
     ·基于BP 神经网络的数控系统可靠性预计(评估)过程关键步骤讨论第24-27页
   ·预计模型的实际应用第27-32页
   ·小结第32-33页
第三章 数控系统 FMECA 分析第33-54页
   ·引言第33页
   ·数控系统的FMECA 分析第33-46页
     ·故障部位分析第35-36页
     ·故障模式分析第36-38页
     ·故障原因分析第38-40页
     ·子系统故障模式、影响及原因分析第40-46页
   ·数控系统故障模式RPN 分析第46-50页
     ·风险优先数法(RPN)第46-48页
     ·数控系统的RPN 分析第48-50页
   ·基于BP 神经网络的数控系统智能FMECA 框架研究第50-53页
     ·BP 神经网络和FMECA 的结合第50-51页
     ·神经网络与FMECA 集成框架第51-53页
     ·智能FMECA 分析的流程第53页
   ·小结第53-54页
第四章 数控系统开发过程中的可靠性保证措施第54-68页
   ·引言第54-55页
   ·数控系统开发过程外购/外协件采购规范第55-59页
     ·供应商要求与职责第55-57页
     ·供应商评价第57页
     ·设立供应商质量巡检员第57页
     ·供货一致性检验第57-58页
     ·供货质量问题第58页
     ·对供应商评审要求第58-59页
   ·数控系统可靠性设计措施第59-67页
     ·数控系统元器件和电路的降额设计第60-61页
     ·数控系统的三防设计第61页
     ·数控系统的热设计第61-62页
     ·数控系统的抗振动、冲击设计第62-63页
     ·数控系统电磁兼容性设计第63-64页
     ·数控系统可维性设计第64-65页
     ·数控系统印制电路板可靠性设计第65-66页
     ·数控系统软件可靠性设计常用的方法及保证措施第66-67页
   ·小结第67-68页
第五章 结论第68-69页
参考文献第69-72页
摘要第72-74页
Abstract第74-77页
致谢第77-78页
导师及作者简介第78页

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