中文摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-8页 |
第一章 文献综述 | 第8-28页 |
·电子封装的可靠性 | 第8-10页 |
·电子封装及其可靠性研究 | 第8-9页 |
·焊点材料 | 第9-10页 |
·本文的研究对象 | 第10页 |
·材料的本构关系 | 第10-19页 |
·无屈服面假设的统一本构关系 | 第11-16页 |
·有屈服面假设的统一本构关系 | 第16-19页 |
·应力更新算法 | 第19-20页 |
·焊锡钎料疲劳研究 | 第20-23页 |
·棘轮效应概述 | 第23-25页 |
·分析讨论 | 第25-27页 |
·本文的工作及研究意义 | 第27-28页 |
·本文工作 | 第27页 |
·研究意义 | 第27-28页 |
第二章 本构积分算法 | 第28-48页 |
·基于O-W模型的基本方程 | 第28-31页 |
·率无关模型 | 第28-30页 |
·率相关模型 | 第30-31页 |
·Euler后退算法 | 第31-36页 |
·利用Euler后退法更新率无关模型 | 第31-34页 |
·利用Euler后退法更新率相关模型 | 第34-36页 |
·背应力更新算法 | 第36-40页 |
·算法模量(统一切向矩阵) | 第40-42页 |
·算例 | 第42-47页 |
·与文献的计算结果比较 | 第42页 |
·显式与隐式积分法的计算结果比较 | 第42-44页 |
·六种非比例加载路径下不同收敛子步数的计算结果比较 | 第44-47页 |
·结论 | 第47-48页 |
第三章 63Sn-37Pb在多轴比例与非比例受力条件下的有限元分析 | 第48-61页 |
·试验过程及结果 | 第48-55页 |
·试验材料与设备 | 第48-49页 |
·应力空间定义 | 第49-51页 |
·比例与非比例加载试验 | 第51-55页 |
·有限元方法用于表面剪应力的计算 | 第55-61页 |
·建立模型 | 第55-56页 |
·应变控制 | 第56页 |
·讨论与分析 | 第56-60页 |
·小结 | 第60-61页 |
第四章 耦合损伤的 O-W 模型对 63Sn-37Pb 的变形和寿命预测 | 第61-75页 |
·63Sn-37Pb的损伤特性 | 第61-62页 |
·Stolkarts损伤模型 | 第62-64页 |
·KBM-Stolkarts模型 | 第64-68页 |
·耦合损伤的O-W模型 | 第68-69页 |
·结果分析与讨论 | 第69-73页 |
·小结 | 第73-75页 |
第五章 率相关的单轴与多轴棘轮效应描述 | 第75-89页 |
·试验过程及结果 | 第75-78页 |
·试验材料与设备 | 第75-76页 |
·数据处理说明 | 第76页 |
·试验结果 | 第76-78页 |
·修正的AF-OW叠加模型 | 第78-81页 |
·AF-OW叠加模型对棘轮效应的描述 | 第78-80页 |
·修正的AF-OW叠加模型 | 第80-81页 |
·结果与讨论 | 第81-87页 |
·结论 | 第87-89页 |
第六章 结论 | 第89-92页 |
参考文献 | 第92-106页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第106-108页 |
主要符号说明 | 第108-111页 |
缩略语表 | 第111-112页 |
致谢 | 第112页 |