基于TIGERSHARC DSP的存储器的高速测试系统
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第 1 章 绪论 | 第8-13页 |
| ·课题背景: | 第8-9页 |
| ·存储器测试用图形发生器的国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·发展概况及国外研究情况 | 第9-10页 |
| ·国内研究情况 | 第10页 |
| ·课题来源及意义 | 第10-11页 |
| ·课题来源 | 第10页 |
| ·意义 | 第10-11页 |
| ·主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第 2 章 存储器测试技术概述 | 第13-23页 |
| ·关于随机存储器测试 | 第13-17页 |
| ·静态随机存储器的工作原理 | 第13-15页 |
| ·寻址 | 第14页 |
| ·读写控制 | 第14-15页 |
| ·动态随机存储器的工作原理 | 第15-17页 |
| ·存储器的工作过程 | 第15-17页 |
| ·存储器件的故障模式 | 第17-22页 |
| ·存储器的硬失效 | 第17-21页 |
| ·存储器的软失效 | 第21-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 第 3 章 算法生成存储器测试图形 | 第23-44页 |
| ·N 型算法测试图形 | 第24-26页 |
| ·奇偶性图形检验法 | 第24-25页 |
| ·齐步法 | 第25-26页 |
| ·其他方法 | 第26页 |
| ·N2型算法测试图形 | 第26-31页 |
| ·跳步法 | 第27-29页 |
| ·跳步写恢复法 | 第29-31页 |
| ·其他方法 | 第31页 |
| ·N3／2型算法测试图形 | 第31-33页 |
| ·行列走步法 | 第32页 |
| ·移动对角线法 | 第32-33页 |
| ·其他方法 | 第33页 |
| ·NLOG2N 型的功能测试图形 | 第33-38页 |
| ·移动变反法 | 第33-35页 |
| ·连续分区法 | 第35-38页 |
| ·功能测试算法的编程要点 | 第38-42页 |
| ·DMA(直接存储器访问)方式 | 第38-39页 |
| ·直接对存储器单元访问 | 第39-40页 |
| ·C 语言算法 | 第40-42页 |
| ·算法功能测试小结 | 第42-44页 |
| 第 4 章 图形发生器的硬件结构 | 第44-62页 |
| ·TIGERSHARC DSP 的优势 | 第45-48页 |
| ·基于 DSP 的图形发生器系统结构 | 第48-49页 |
| ·测试系统硬件体系结构 | 第49-60页 |
| ·电源 | 第50-52页 |
| ·时钟 | 第52-53页 |
| ·DSP 与被测 SDRAM 的连接 | 第53-56页 |
| ·主要控制信号 | 第56-57页 |
| ·其他部分 | 第57-60页 |
| ·复位部分 | 第57-59页 |
| ·DSP 的引导 | 第59-60页 |
| ·实验及总结 | 第60-62页 |
| 第 5 章 图形发生器与计算机的通信 | 第62-73页 |
| ·接口卡 | 第62-65页 |
| ·DSP 部分 | 第65-67页 |
| ·数据发送 | 第66-67页 |
| ·数据接收 | 第67页 |
| ·电平转换 | 第67-72页 |
| ·小结 | 第72-73页 |
| 第 6 章 用户操作环境 | 第73-78页 |
| ·用户操作界面 | 第73-75页 |
| ·C 语言对数据的处理 | 第75-76页 |
| ·关于多线程编程 | 第76-77页 |
| ·总结 | 第77-78页 |
| 结论与展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第83-84页 |
| 致 谢 | 第84页 |
