光纤端面干涉测试系统研究
| 1 绪论 | 第1-11页 |
| ·微表面和微结构测量概述 | 第6-7页 |
| ·显微干涉测试系统的发展现状 | 第7-9页 |
| ·本论文的主要工作 | 第9-11页 |
| 2 光纤连接器关键性能标准及测试系统参数制定 | 第11-24页 |
| ·光纤连接器基本概述 | 第11-12页 |
| ·光纤连接器分类 | 第11-12页 |
| ·光纤连接器的端面形状 | 第12页 |
| ·光纤端面关键性能标准及所需测量参数 | 第12-17页 |
| ·光纤端面关键性能标准 | 第12-17页 |
| ·显微干涉测试系统对光纤连接器的实测参数 | 第17页 |
| ·本课题具体采取的测量方案以及硬件框架 | 第17-23页 |
| ·干涉测量法的基本原理及常见光路类型 | 第17-21页 |
| ·测试系统的光路方案和仪器选择 | 第21-22页 |
| ·测试系统的预期要求 | 第22-23页 |
| ·小结 | 第23-24页 |
| 3 光纤连接器端面测量的理论模型及算法 | 第24-41页 |
| ·连接器端面曲率半径的计算方法 | 第24-36页 |
| ·静态干涉图分析法计算端面曲率半径 | 第24-30页 |
| ·移相干涉法计算光纤连接器端面曲率半径 | 第30-36页 |
| ·连接器端面顶点偏移的计算方法 | 第36-40页 |
| ·顶点偏移的具体算法 | 第36-38页 |
| ·顶点偏移算法的验证 | 第38-40页 |
| ·算法涉及的实际问题 | 第40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 4 干涉显微镜硬件改造 | 第41-55页 |
| ·干涉显微系统硬件改造需求分析 | 第41-44页 |
| ·6JA干涉显微镜的硬件结构 | 第41-43页 |
| ·测量系统的预期硬件形态 | 第43-44页 |
| ·6JA干涉显微镜具体硬件改造过程 | 第44-54页 |
| ·视场大小的改造 | 第45-47页 |
| ·光纤准直调节及夹具结构 | 第47-52页 |
| ·PZT移相装置和CCD图像采集装置的安装 | 第52-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 5 全文总结 | 第55-57页 |
| ·本文的主要工作及创新点 | 第55页 |
| ·有待解决的问题 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 附录 | 第60-62页 |