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光学综合孔径成像技术的实验研究

1 绪论第1-9页
   ·课题背景第5-6页
   ·光学综合孔径成像技术的历史回顾第6页
   ·光学综合孔径成像技术发展的必然及本论文研究的内容第6-7页
   ·项目来源及本文的主要研究工作第7-9页
2 光学综合孔径成像技术基础理论第9-16页
   ·范西特-泽尼克定理在天文光干涉技术中的应用第9-13页
   ·光学综合孔径成像原理和图像重构第13页
   ·闭合相位技术及U-V覆盖技术第13-15页
   ·小结第15-16页
3 光学综合孔径干涉成像的建模第16-25页
   ·相位相对不变的多孔干涉(静态)第16-22页
   ·动态的二孔干涉第22-23页
   ·压电陶瓷微位移驱动器的特性第23-24页
   ·小结第24-25页
4 光学综合孔径干涉成像原理的验证第25-40页
   ·静态共光路多孔干涉第25-33页
     ·干涉条纹的方向与基线B的关系第26-27页
     ·掩模板上小孔位置变化(B不变)对干涉条纹的影响第27-28页
     ·掩模板上基线B的大小变化对干涉条纹的影响第28-29页
     ·三孔径掩模板时的干涉条纹第29-33页
   ·静态分光路二孔干涉第33-37页
     ·掩模板位置的变化对干涉条纹的影响第34-35页
     ·静态分光路的二孔干涉第35-37页
   ·动态分光路的二孔干涉第37-39页
   ·小结第39-40页
全文小结第40-41页
致谢第41-42页
参考文献第42-44页
附录A: 图3.1实际实验装置照片第44-45页
附录B: 图4.10实际实验装置照片第45-46页

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