| 第一章 序言 | 第1-19页 |
| ·可测试性技术的产生与发展 | 第12-13页 |
| ·数字电路测试技术的现状和发展 | 第13-15页 |
| ·离散事件系统理论的介绍 | 第15-17页 |
| ·离散事件系统理论的研究背景 | 第15-16页 |
| ·离散事件 | 第16-17页 |
| ·离散事件系统 | 第17页 |
| ·本论文研究的目的和意义 | 第17-19页 |
| 第二章 数模混合电路测试的数学模型 | 第19-30页 |
| ·数模混合电路的可测试性 | 第19-23页 |
| ·电路的可测试性 | 第20-21页 |
| ·电路的最小测试集 | 第21-22页 |
| ·电路的故障隔离率 | 第22-23页 |
| ·电路测试理论的应用示例 | 第23-28页 |
| ·DES理论在数模混合信号电路测试中的应用 | 第28-30页 |
| 第三章 基于DES理论的电路测试系统演示软件系统 | 第30-41页 |
| ·测试软件包的模块结构 | 第30-31页 |
| ·算法流程和算法的复杂度 | 第31-36页 |
| ·TEST--可测试性模块 | 第32-33页 |
| ·INFD--“最精细”分区模块 | 第33-34页 |
| ·MINOES--最小测试集模块 | 第34-35页 |
| ·算法的复杂度 | 第35-36页 |
| ·电路测试的实验演示系统 | 第36-40页 |
| ·演示软件系统的设计的小结 | 第40-41页 |
| 第四章 测试故障诊断数据库 | 第41-53页 |
| ·可编程逻辑器件的基本原理和设计流程 | 第41-44页 |
| ·FLEX 10K系列器件的性能特点 | 第42-43页 |
| ·可编程逻辑器件的设计 | 第43-44页 |
| ·数字电路故障仿真 | 第44-50页 |
| ·故障电路模块设计 | 第45-48页 |
| ·故障诊断数据的建立 | 第48-50页 |
| ·数模混合电路的故障仿真 | 第50-51页 |
| ·测试诊断数据库试验和设计的小结 | 第51-53页 |
| 第五章 电路最小测试集的优化算法 | 第53-60页 |
| ·电路的最小测试集 | 第53页 |
| ·模拟退火算法 | 第53-56页 |
| ·几种优化算法的介绍 | 第54-55页 |
| ·模拟退火算法的寻优机制 | 第55-56页 |
| ·最小测试集的优化算法 | 第56-58页 |
| ·最小测试集寻优过程的一些数学模型 | 第56-57页 |
| ·优化算法过程 | 第57-58页 |
| ·模拟退火算法的收敛性 | 第58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第六章 总结与展望 | 第60-64页 |
| ·论文主要工作内容总结 | 第60-61页 |
| ·可测试性技术的未来发展趋势 | 第61-62页 |
| ·基于DES理论的数模混合电路可测试性研究中的不足 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 读硕士期间发表的相关论文 | 第67-68页 |