半导体激光器电导数测量与可靠性分析
| 提要 | 第1-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·半导体激光器简介 | 第8-10页 |
| ·半导体激光器电导数研究的意义 | 第10-11页 |
| ·国内外现状 | 第11-12页 |
| ·本课题研究内容 | 第12-13页 |
| 第二章 半导体激光器电导数特性 | 第13-23页 |
| ·电导数的理论基础 | 第13-16页 |
| ·半导体激光器的V～I 特性 | 第13-14页 |
| ·半导体激光器的P～I 特性 | 第14-15页 |
| ·半导体激光器的电导数推导 | 第15-16页 |
| ·电导数的测试方法 | 第16-20页 |
| ·半导体激光器的V～I 曲线测试 | 第18-19页 |
| ·半导体激光器的P～I 曲线测试 | 第19页 |
| ·阈值电流的测试 | 第19-20页 |
| ·电导数的参数分析 | 第20-23页 |
| 第三章 半导体激光器电导数测试系统硬件设计 | 第23-39页 |
| ·系统总体设计 | 第23-24页 |
| ·总体结构 | 第23-24页 |
| ·系统功能 | 第24页 |
| ·硬件模块设计 | 第24-39页 |
| ·微控制器 | 第24-27页 |
| ·数模转换模块 | 第27-29页 |
| ·压控恒流源 | 第29-31页 |
| ·光电转换模块 | 第31-33页 |
| ·模数转换模块 | 第33-36页 |
| ·串口通信模块 | 第36-38页 |
| ·电源设计 | 第38-39页 |
| 第四章 半导体激光器电导数测试系统软件设计 | 第39-50页 |
| ·程序总体设计 | 第39-40页 |
| ·单片机软件程序设计 | 第40-42页 |
| ·D/A 转换部分 | 第40-41页 |
| ·A/D 转换部分 | 第41-42页 |
| ·串口通信部分 | 第42页 |
| ·上位机软件程序设计 | 第42-50页 |
| ·开发平台的选择 | 第43页 |
| ·串口通信部分 | 第43-46页 |
| ·程序算法 | 第46-48页 |
| ·界面显示 | 第48-50页 |
| 第五章 半导体激光器电导数测试数据分析 | 第50-57页 |
| ·测试结果数据 | 第50-51页 |
| ·测试数据分析 | 第51-55页 |
| ·阈值电流 | 第52-53页 |
| ·结特征参量 | 第53页 |
| ·截距 | 第53-54页 |
| ·初始峰 | 第54页 |
| ·结电压饱和深度 | 第54-55页 |
| ·结论 | 第55-57页 |
| 第六章 半导体激光器电导数的降噪处理 | 第57-61页 |
| ·降噪的数学方法 | 第57-58页 |
| ·均值滤波法 | 第57页 |
| ·非线性扩散滤波方法 | 第57-58页 |
| ·电导数的降噪 | 第58-61页 |
| 第七章 总结与展望 | 第61-62页 |
| ·本文工作总结 | 第61页 |
| ·今后工作展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 摘要 | 第66-69页 |
| ABSTRACT | 第69-71页 |
