镜像法测试高温超导薄膜微波表面电阻的研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-29页 |
| ·高温超导薄膜微波表面电阻 | 第13-17页 |
| ·高温超导薄膜国内外发展状况 | 第17-18页 |
| ·高温超导微波微波表面电阻测试方法 | 第18-27页 |
| ·传输线型测试法 | 第18-19页 |
| ·谐振腔型测试法 | 第19-27页 |
| ·本论文的选题及研究内容 | 第27-29页 |
| 第二章 镜像介质谐振器法 | 第29-46页 |
| ·镜像介质谐振器法原理 | 第29-34页 |
| ·理论模型 | 第29-31页 |
| ·确定A、B值 | 第31-34页 |
| ·校准步骤 | 第34-43页 |
| ·零电阻面的实现 | 第34-41页 |
| ·A、B值的获取 | 第41-43页 |
| ·无载品质因数Q_0的测量 | 第43-44页 |
| ·本章小节 | 第44-46页 |
| 第三章 镜像法测试腔体设计及制作 | 第46-67页 |
| ·前一代测试装置的不足 | 第46-49页 |
| ·测试探头的改进 | 第49-59页 |
| ·材料选择 | 第49-50页 |
| ·谐振腔的结构设计 | 第50-53页 |
| ·耦合结构设计 | 第53-58页 |
| ·测试探头实际制作 | 第58-59页 |
| ·校准探头的改进 | 第59-64页 |
| ·50欧姆负载匹配 | 第60-62页 |
| ·损耗介质模拟匹配负载 | 第62-64页 |
| ·各部分材料损耗的分析 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第四章 镜像法的准确校准 | 第67-86页 |
| ·校准步骤中零电阻面准确获取 | 第67-76页 |
| ·不同情况下测试值的误差 | 第67-70页 |
| ·筛选法 | 第70-74页 |
| ·淘汰法 | 第74-76页 |
| ·校准步骤中B值的准确确定 | 第76-85页 |
| ·谐振腔的设计 | 第77-81页 |
| ·镀金黄铜板的加工及测试 | 第81-84页 |
| ·结果验证 | 第84-85页 |
| ·本章小结 | 第85-86页 |
| 第五章 镜像法测试装置的测试误差以及稳定性 | 第86-104页 |
| ·样品的测试 | 第86-91页 |
| ·改进后测试装置的校准 | 第86-88页 |
| ·高温超导样品的测试 | 第88-91页 |
| ·误差分析 | 第91-95页 |
| ·镜像法测试装置的稳定性 | 第95-97页 |
| ·与国家标准测试方法的对比测试结果 | 第97-103页 |
| ·测试曲线及数据 | 第99-101页 |
| ·比对结果 | 第101-103页 |
| ·本章小结 | 第103-104页 |
| 第六章 高温超导薄膜微波表面电阻的多模测试 | 第104-121页 |
| ·频率特性测试状况 | 第104-108页 |
| ·圆柱空腔谐振器法 | 第105-106页 |
| ·多模谐振器测试 | 第106-108页 |
| ·镜像法一腔多模测试理论 | 第108-111页 |
| ·测试装置的设计 | 第111-115页 |
| ·测试结果及分析 | 第115-120页 |
| ·本章小结 | 第120-121页 |
| 第七章 总结和创新点 | 第121-123页 |
| 致谢 | 第123-124页 |
| 参考文献 | 第124-133页 |
| 附录 | 第133-136页 |
| 攻博期间取得的研究成果 | 第136-137页 |
