用于电容传感器的高增益高性能运算放大器
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-15页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究动态 | 第9-10页 |
| ·研究现状 | 第10-12页 |
| ·发展趋势 | 第12-13页 |
| ·本课题主要任务 | 第13-15页 |
| 第二章 运算放大器的性能指标与测试方法 | 第15-22页 |
| ·运放的具体指标及测试方法 | 第15-20页 |
| ·开环增益（AV） | 第15-16页 |
| ·小信号带宽（BANDWIDTH） | 第16页 |
| ·输出摆幅 | 第16-17页 |
| ·转换速率与建立时间 | 第17-18页 |
| ·相位裕度 | 第18页 |
| ·噪声 | 第18-20页 |
| ·运放指标设计与折衷 | 第20-22页 |
| 第三章 全差分运放结构设计与分析 | 第22-30页 |
| ·典型运放结构对比 | 第22-25页 |
| ·套筒式共源共栅运放 | 第22-23页 |
| ·折叠式共源共栅运放 | 第23-24页 |
| ·增益提高运放 | 第24-25页 |
| ·CMOS 全差分两级运放 | 第25-30页 |
| ·输入级设计 | 第27-29页 |
| ·输出级设计 | 第29-30页 |
| 第四章 CMOS 全差分共源共栅两级运放关键技术 | 第30-42页 |
| ·密勒电容补偿电路 | 第30-34页 |
| ·密勒电容补偿技术 | 第30-32页 |
| ·两级运放的补偿 | 第32-34页 |
| ·共模反馈电路设计 | 第34-40页 |
| ·偏置电路设计 | 第40页 |
| ·整体运放系统拓扑设计 | 第40-42页 |
| 第五章 仿真验证、版图设计及应用 | 第42-54页 |
| ·仿真结果与分析 | 第42-46页 |
| ·幅频特性即开环增益分析 | 第42-43页 |
| ·相频特性分析 | 第43-44页 |
| ·转换速率分析 | 第44-45页 |
| ·输出摆幅分析 | 第45页 |
| ·噪声分析 | 第45-46页 |
| ·不同工艺、电源电压及温度下仿真结果汇总 | 第46-47页 |
| ·版图设计 | 第47-51页 |
| ·版图设计规则概述 | 第47-48页 |
| ·模拟电路的版图设计 | 第48-49页 |
| ·该项目两级运放版图设计 | 第49-51页 |
| ·应用 | 第51-54页 |
| 第六章 结论 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第58-59页 |
