软质颗粒特性对电触点可靠性影响的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·电接触可靠性的影响研究的重要性 | 第9-12页 |
| ·电接触可靠性的重要性 | 第9-10页 |
| ·影响电接触可靠性的因素 | 第10-12页 |
| ·尘土对电接触可靠性影响的重要性 | 第12-14页 |
| ·尘土污染研究的重要性 | 第12页 |
| ·电接触表面尘土污染的研究现状 | 第12-14页 |
| ·课题来源、内容及意义 | 第14-16页 |
| ·课题来源 | 第14-15页 |
| ·课题主要研究内容 | 第15页 |
| ·课题意义 | 第15-16页 |
| 第二章 实验设备原理及使用 | 第16-30页 |
| ·接触点微观观察及颗粒微观形貌观察 | 第16-19页 |
| ·光学显微镜与测量显微镜简介 | 第16-17页 |
| ·光学显微镜间接测量法原理及误差估计 | 第17-19页 |
| ·样品表面参数测量 | 第19-21页 |
| ·静态接触电阻测量 | 第21-22页 |
| ·动态接触电阻测量 | 第22-25页 |
| ·接触电阻测试方法 | 第23-24页 |
| ·微动实验台的应用 | 第24-25页 |
| ·微动区域微观观察及成分分析 | 第25-30页 |
| ·扫描电子显微镜简介 | 第26-27页 |
| ·X射线能谱仪简介 | 第27-30页 |
| 第三章 颗粒物造成触点失效的理论分析 | 第30-38页 |
| ·电接触的基本理论 | 第30-33页 |
| ·接触面积 | 第30-31页 |
| ·接触电阻 | 第31-33页 |
| ·尘土造成电触点的失效机理 | 第33-37页 |
| ·静态失效模式 | 第34-36页 |
| ·动态实验模型及动态失效模式 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 颗粒物的选取及基本物理参数测定 | 第38-48页 |
| ·颗粒测量问题解决方案 | 第38-43页 |
| ·制备待测颗粒物的样片 | 第39页 |
| ·光学显微镜间接观察法步骤 | 第39-41页 |
| ·各项颗粒物的原始尺寸测量分析 | 第41-43页 |
| ·颗粒物受力后状态分析 | 第43-46页 |
| ·颗粒物受力分析实验的来源与意义 | 第44页 |
| ·颗粒物受力分析的实验方法 | 第44-45页 |
| ·各项颗粒物受力分析的尺寸变化 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-48页 |
| 第五章 静态条件下软质颗粒物对电触点可靠性的影响 | 第48-59页 |
| ·静态条件下接触电阻测试方法研究及数据处理方法 | 第48-54页 |
| ·颗粒物电阻测试的单颗粒分离方法研究 | 第48-50页 |
| ·静态实验设计 | 第50-51页 |
| ·颗粒定位方法的研究 | 第51-52页 |
| ·静态观测方法的研究 | 第52-53页 |
| ·箱线图介绍 | 第53-54页 |
| ·静态条件下软质颗粒物对接触电阻影响的研究 | 第54-57页 |
| ·不同接触条件下云母覆盖静态接触电阻特性 | 第54-55页 |
| ·不同接触条件下石膏覆盖静态接触电阻特性 | 第55-57页 |
| ·不同接触条件下石膏和云母覆盖接触电阻特性比较 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第六章 动态条件下软质颗粒物对电触点可靠性的影响 | 第59-77页 |
| ·动态条件下接触电阻的测试方法的研究 | 第59页 |
| ·动态条件下云母颗粒对接触电阻影响的研究 | 第59-75页 |
| ·微动实验方法 | 第59-60页 |
| ·洁净样片的微动实验 | 第60-61页 |
| ·接触界面有颗粒存在时动态接触电阻的变化 | 第61-71页 |
| ·接触界面没有颗粒存在时动态接触电阻的变化 | 第71-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第七章 研究与展望 | 第77-79页 |
| ·研究总结 | 第77-78页 |
| ·讨论与展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第82页 |
