| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 前言 | 第7-19页 |
| ·存储器功能及可靠性测试 | 第7-8页 |
| ·失效时间和失效机理 | 第8-9页 |
| ·可靠性试验的目的和种类 | 第9-10页 |
| ·主要可靠性试验介绍 | 第10-13页 |
| ·闪存可靠性的分析与验证 | 第13-18页 |
| ·闪存可靠性分析 | 第14-17页 |
| ·闪存可靠性测试 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第二章 擦除失效的分析 | 第19-25页 |
| ·擦除流程和原理 | 第19-20页 |
| ·擦除失效分析 | 第20-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 低温擦除失效的实验验证及改进 | 第25-38页 |
| ·低温失效器件的数据分析 | 第25-33页 |
| ·低温擦除操作失效的改进 | 第33-35页 |
| ·芯片可靠性验证 | 第35-37页 |
| ·高温烘烤实验(Data Retention Bake) | 第35-36页 |
| ·室温（25C）1 万次连续擦除实验(10K cycling@25C) | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 结论 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-40页 |
| 附录：ERASE 的程序 | 第40-46页 |
| 硕士期间发表的论文 | 第46-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |