半有源超高频射频识别标签芯片的研究与设计
摘要 | 第1-9页 |
Abstract | 第9-10页 |
第一章 绪论 | 第10-21页 |
·研究背景 | 第10-13页 |
·什么是射频识别 | 第10-11页 |
·什么是半有源标签 | 第11-13页 |
·研究现状 | 第13-17页 |
·标准 | 第13-14页 |
·标签芯片设计技术 | 第14-15页 |
·其它相关技术 | 第15-16页 |
·课题研究难点 | 第16-17页 |
·论文主要贡献 | 第17-18页 |
·论文组织架构 | 第18页 |
参考文献 | 第18-21页 |
第二章 超高频射频识别的物理基础 | 第21-30页 |
·电磁学基础 | 第21-23页 |
·反向散射调制原理 | 第23-25页 |
·信号编码与调制 | 第25-29页 |
·小结 | 第29页 |
参考文献 | 第29-30页 |
第三章 反向散射射频识别系统的识读距离分析 | 第30-41页 |
·标签被识读的四个基本条件 | 第30页 |
·下行链路的信号解调 | 第30-32页 |
·反向散射机制下的能量传输 | 第32-35页 |
·能量分配与功耗分析 | 第35-38页 |
·小结 | 第38页 |
参考文献 | 第38-41页 |
第四章 半有源超高频标签的系统性能分析 | 第41-56页 |
·识别率 | 第41-50页 |
·制造成本 | 第50-52页 |
·使用寿命 | 第52-53页 |
·小结 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-56页 |
第五章 半有源超高频标签芯片中的关键技术分析 | 第56-83页 |
·半有源超高频标签的系统架构分析 | 第56-58页 |
·整流器的优化分析 | 第58-68页 |
·开启电压制约分析 | 第58-61页 |
·整流效率分析 | 第61-63页 |
·电路结构优化 | 第63-66页 |
·版图考虑 | 第66-68页 |
·唤醒电路的优化分析 | 第68-71页 |
·两级唤醒 | 第68-69页 |
·两级唤醒原理在EPC C1G2协议下的验证 | 第69-71页 |
·随机数发生器的优化分析 | 第71-78页 |
·电路结构 | 第72-74页 |
·设计考虑 | 第74-77页 |
·芯片实现与测试结果 | 第77-78页 |
·小结 | 第78页 |
参考文献 | 第78-83页 |
第六章 半有源超高频温度传感标签的实现与测试 | 第83-112页 |
·系统设计 | 第83-87页 |
·模块设计 | 第87-100页 |
·射频前端 | 第87-88页 |
·充电器 | 第88-91页 |
·唤醒电路 | 第91-95页 |
·模拟前端 | 第95-97页 |
·温度传感器 | 第97-99页 |
·传感器接口 | 第99-100页 |
·测试结果 | 第100-108页 |
·射频性能测试 | 第101-104页 |
·电源相关性能测试 | 第104-106页 |
·传感器测试 | 第106-107页 |
·测试结果总结 | 第107-108页 |
·小结 | 第108-109页 |
参考文献 | 第109-112页 |
第七章 总结与展望 | 第112-114页 |
·总结 | 第112-113页 |
·展望 | 第113-114页 |
附录A 攻博期间的发表与著作情况 | 第114-116页 |
附录B 论文中使用到的英文缩写 | 第116-117页 |
附录C 图目录 | 第117-119页 |
附录D 表目录 | 第119-120页 |
致谢 | 第120-121页 |