| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-22页 |
| 1.1 受控核聚变 | 第11-12页 |
| 1.2 托卡马克(Tokamak) | 第12-19页 |
| 1.3 边界再循环及杂质行为 | 第19-20页 |
| 1.4 论文内容组成 | 第20-22页 |
| 第2章 边界再循环及杂质行为概述 | 第22-48页 |
| 2.1 面向聚变堆的高约束稳态运行模式 | 第22-27页 |
| 2.1.1 托卡马克约束定标 | 第22-24页 |
| 2.1.2 稳态运行模式 | 第24-27页 |
| 2.2 托卡马克粒子再循环和杂质行为特征 | 第27-29页 |
| 2.2.1 杂质产生过程 | 第27-28页 |
| 2.2.2 粒子再循环特性 | 第28-29页 |
| 2.3 粒子再循环及杂质的有效控制 | 第29-42页 |
| 2.3.1 粒子源控制再循环及杂质行为 | 第30-33页 |
| 2.3.2 边界输运过程控制再循环及杂质行为 | 第33-39页 |
| 2.3.3 芯部输运过程控制杂质行为 | 第39-42页 |
| 2.4 EAST长脉冲高约束模式的探索 | 第42-46页 |
| 2.5 本章小结 | 第46-48页 |
| 第3章 EAST粒子行为研究手段和方法 | 第48-78页 |
| 3.1 概述 | 第48-50页 |
| 3.2 边界可见光谱仪诊断研究和方法 | 第50-68页 |
| 3.2.1 边界可见光谱仪诊断系统 | 第50-53页 |
| 3.2.2 光谱仪标定 | 第53-55页 |
| 3.2.3 D_a(H_a)谱线线型测量及分析 | 第55-60页 |
| 3.2.4 氘原子高n态巴尔末系谱线测量及分析 | 第60-63页 |
| 3.2.5 分子光谱 | 第63-64页 |
| 3.2.6 粒子平衡方程 | 第64-68页 |
| 3.3 快离子损失诊断研究和方法 | 第68-76页 |
| 3.3.1 快离子损失诊断系统 | 第68-70页 |
| 3.3.2 高能粒子损失行为特征 | 第70-76页 |
| 3.4 本章小结 | 第76-78页 |
| 第4章 EAST长脉冲高约束粒子行为特征及其控制 | 第78-95页 |
| 4.1 第一壁材料及壁处理技术对长脉冲高参数等离子体的研宄 | 第78-83页 |
| 4.1.1 壁材料与等离子体的约束 | 第78-79页 |
| 4.1.2 锂化和硅化壁处理下边界再循环及杂质特征 | 第79-83页 |
| 4.2 EAST长脉冲高约束放电的粒子行为及控制 | 第83-92页 |
| 4.2.1 位形优化与杂质再循环控制 | 第83-85页 |
| 4.2.2 三角形变与杂质再循环控制 | 第85-86页 |
| 4.2.3 内置低温泵与再循环控制 | 第86-88页 |
| 4.2.4 纵场方向对边界再循环和杂质行为的影响 | 第88-90页 |
| 4.2.5 高密度运行下的边界再循环及杂质行为 | 第90-92页 |
| 4.3 高参数长脉冲放电中再循环行为研究 | 第92-94页 |
| 4.4 本章小结 | 第94-95页 |
| 第5章 EAST长脉冲高约束放电中电子回旋加热对钨杂质的有效控M | 第95-105页 |
| 5.1 钨杂质行为概述 | 第95-96页 |
| 5.2 电子回旋加热下的钨杂质输运分析 | 第96-102页 |
| 5.2.1 在轴电子回旋加热下的钨杂质输运和粒子再循环分析 | 第96-101页 |
| 5.2.2 高功率电子回旋加热下的钨杂质输运和粒子再循环分析 | 第101-102页 |
| 5.3 长脉冲H模中在轴电子回旋加热对钨杂质的有效控制 | 第102-103页 |
| 5.4 本章小结 | 第103-105页 |
| 第6章 总结与展望 | 第105-108页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第105-107页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第107-108页 |
| 参考文献 | 第108-117页 |
| 致谢 | 第117-118页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研宄成果 | 第118-120页 |
