压电陶瓷银片外观缺陷检测的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 数字图像处理简介 | 第9-11页 |
| 1.2 压电陶瓷概述 | 第11-13页 |
| 1.3 陶瓷缺陷检测 | 第13-15页 |
| 1.3.1 传统检测 | 第13页 |
| 1.3.2 无损检测 | 第13-15页 |
| 1.4 课题背景及研究意义 | 第15-16页 |
| 1.5 相关技术研究现状 | 第16-17页 |
| 1.6 论文结构安排 | 第17-18页 |
| 第二章 系统总体分析及硬件设计 | 第18-26页 |
| 2.1 需求分析 | 第18页 |
| 2.2 缺陷系统硬件设计 | 第18-19页 |
| 2.3 人机交互界面 | 第19-21页 |
| 2.3.1 图像检测结果实时显示模块 | 第20页 |
| 2.3.2 状态控制模块 | 第20-21页 |
| 2.4 光源的选取 | 第21-22页 |
| 2.5 相机和检测托板的选取 | 第22-25页 |
| 2.5.1 相机的选取 | 第22-24页 |
| 2.5.2 检测托板的选取 | 第24页 |
| 2.5.3 相机安装支架的设计 | 第24-25页 |
| 2.6 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 压电陶瓷银片外观缺陷检测 | 第26-50页 |
| 3.1 图像预处理 | 第26-31页 |
| 3.1.1 均值滤波 | 第26-27页 |
| 3.1.2 中值滤波 | 第27-29页 |
| 3.1.3 高斯滤波 | 第29-30页 |
| 3.1.4 双边滤波 | 第30-31页 |
| 3.2 数学形态学 | 第31-34页 |
| 3.2.1 数学形态学基本概念 | 第31-32页 |
| 3.2.2 二值形态学运算 | 第32-33页 |
| 3.2.3 灰度形态学运算 | 第33-34页 |
| 3.3 边缘检测 | 第34-40页 |
| 3.3.1 经典边缘检测算法 | 第35-40页 |
| 3.4 边缘跟踪及压电陶瓷银片区域的确定 | 第40-41页 |
| 3.5 残缺和破损检测 | 第41-42页 |
| 3.6 表面缺陷检测 | 第42-49页 |
| 3.6.1 提取缺陷信息 | 第42-43页 |
| 3.6.2 提取缺陷信息 | 第43-49页 |
| 3.7 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 压电陶瓷银片的同心度检测 | 第50-60页 |
| 4.1 引言 | 第50页 |
| 4.2 Hough变换 | 第50-52页 |
| 4.2.1 Hough变换原理 | 第50页 |
| 4.2.2 经典Hough变换圆检测 | 第50-51页 |
| 4.2.3 随机Hough变换圆检测 | 第51页 |
| 4.2.4 改进的Hough变换圆检测 | 第51-52页 |
| 4.3 最小二乘拟合 | 第52-53页 |
| 4.4 同心度检测方法 | 第53-56页 |
| 4.5 同心度检测系统流程图 | 第56-57页 |
| 4.6 实验结果分析 | 第57-59页 |
| 4.6.1 残缺和破损检测实验 | 第57-58页 |
| 4.6.2 斑点缺陷检测实验 | 第58页 |
| 4.6.3 划痕缺陷检测实验 | 第58页 |
| 4.6.4 空洞缺陷检测实验 | 第58-59页 |
| 4.6.5 同心度检测实验 | 第59页 |
| 4.7 本章小结 | 第59-60页 |
| 总结与展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 附件 | 第65页 |
