基于STM32的电工钢片铁损测试仪的研究与开发
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-17页 |
| ·研究背景及意义 | 第14-15页 |
| ·本文的主要研究工作 | 第15-16页 |
| ·本文安排 | 第16-17页 |
| 第二章 铁损测试方法 | 第17-28页 |
| ·电工钢简介 | 第17-18页 |
| ·铁损测试概述 | 第18-20页 |
| ·爱泼斯坦方圈法 | 第20-23页 |
| ·方圈结构 | 第20-21页 |
| ·测量原理 | 第21-23页 |
| ·测试点的设定 | 第23页 |
| ·单片铁损测试 | 第23-25页 |
| ·单片铁损测试装置结构 | 第23-24页 |
| ·测量原理 | 第24-25页 |
| ·两种标准测试方法的比较 | 第25-26页 |
| ·探头式单片测试法 | 第26-27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 第三章 系统总体设计方案 | 第28-33页 |
| ·系统需求分析 | 第28-29页 |
| ·功能性需求 | 第28页 |
| ·非功能性需求 | 第28-29页 |
| ·系统结构设计 | 第29页 |
| ·微控制器的选择 | 第29-32页 |
| ·STM32 处理器的特点 | 第30-31页 |
| ·STM32 处理器外部引脚图及内部结构 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第四章 系统的硬件设计 | 第33-41页 |
| ·系统硬件的组成 | 第33页 |
| ·硬件电路设计 | 第33-40页 |
| ·正弦波发生电路 | 第33-34页 |
| ·功率放大电路 | 第34-35页 |
| ·信号采集电路 | 第35-38页 |
| ·键盘及LCD 电路 | 第38-40页 |
| ·测试探头设计 | 第40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第五章 系统的软件设计 | 第41-56页 |
| ·总体流程图 | 第41-42页 |
| ·DAC 部分 | 第42-45页 |
| ·DAC 产生幅值可控正弦波的基本原理 | 第42-43页 |
| ·DAC 产生幅值可控正弦波的程序设计 | 第43-45页 |
| ·ADC 部分 | 第45-48页 |
| ·ADC 的程序设计 | 第45-46页 |
| ·测试探头位置的自动识别 | 第46-48页 |
| ·用数字反馈法控制磁感应强度波形 | 第48-50页 |
| ·幅值控制方法 | 第48页 |
| ·波形系数控制方法 | 第48-50页 |
| ·数据处理与运算 | 第50-54页 |
| ·ADC 采样数据处理 | 第50-52页 |
| ·铁损计算 | 第52-54页 |
| ·LCD部分 | 第54-55页 |
| ·LCD 工作原理 | 第54页 |
| ·LCD 程序设计 | 第54-55页 |
| ·LCD 汉字字库程序设计 | 第55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第六章 调试过程与测试结果 | 第56-63页 |
| ·调试过程 | 第56-61页 |
| ·硬件调试 | 第56-57页 |
| ·软件调试 | 第57-59页 |
| ·整体调试 | 第59-61页 |
| ·测试结果 | 第61-63页 |
| 第七章 总结 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 附录A STM32F103xC 内部结构 | 第66-67页 |
| 附录B 1/4周期正弦波波形表 | 第67-68页 |
| 附录C 系统电路原理图 | 第68-69页 |
| 附录D 系统PCB 图 | 第69-70页 |
| 附录E PCB 实物图 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 攻读学位期间参加的科研项目和成果 | 第72页 |
