应用磁谐振频率分裂的回路通断检测研究
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题研究的背景 | 第8页 |
| 1.2 磁耦合谐振技术国内外研究现状 | 第8-13页 |
| 1.2.1 磁耦合谐振技术国外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.2.2 磁耦合谐振技术国内研究现状 | 第10-13页 |
| 1.3 磁耦合谐振技术频率分裂研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 课题研究的意义 | 第14页 |
| 1.5 本文的主要内容 | 第14-16页 |
| 2 磁耦合谐振系统频率分裂的建模与分析 | 第16-28页 |
| 2.1 磁耦合谐振系统的基本结构 | 第16-17页 |
| 2.2 磁耦合谐振系统的理论建模 | 第17-22页 |
| 2.2.1 基本谐振电路 | 第17-20页 |
| 2.2.2 磁耦合谐振系统的建模 | 第20-22页 |
| 2.3 频率分裂现象 | 第22-26页 |
| 2.3.1 频率分裂的本质 | 第22-25页 |
| 2.3.2 频率分裂现象的判断方法 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-28页 |
| 3 应用频率分裂的回路通断检测方法 | 第28-50页 |
| 3.1 电磁场有限元法仿真 | 第28-30页 |
| 3.2 应用频率分裂的回路通断检测方法 | 第30-38页 |
| 3.2.1 高频情况下线圈和电容的模型 | 第30-31页 |
| 3.2.2 回路通断状态对谐振频率的影响 | 第31-33页 |
| 3.2.3 应用频率分裂现象的回路通断检测 | 第33-38页 |
| 3.3 应用频率分裂的回路通断检测方法特性研究 | 第38-43页 |
| 3.3.1 最大检测距离 | 第38-39页 |
| 3.3.2 金属导体环境对检测系统的影响 | 第39-43页 |
| 3.4 单网孔通断检测 | 第43-45页 |
| 3.4.1 网孔通断状态的谐振频率仿真 | 第43-44页 |
| 3.4.2 单网孔通断检测仿真 | 第44-45页 |
| 3.5 应用频率分裂的回路通断检测方法实验验证 | 第45-49页 |
| 3.5.1 回路通断检测实验验证 | 第47-48页 |
| 3.5.2 抗金属导体环境干扰实验验证 | 第48-49页 |
| 3.6 本章小结 | 第49-50页 |
| 4 检测系统的构建及功率放大器实现 | 第50-74页 |
| 4.1 检测系统的构建 | 第50页 |
| 4.2 射频功率放大器的基本理论 | 第50-54页 |
| 4.2.1 射频功率放大器的性能指标 | 第50-51页 |
| 4.2.2 阻抗匹配 | 第51-52页 |
| 4.2.3 S参数与放大器的稳定性 | 第52-54页 |
| 4.3 具有并联电容的E类功率放大器原理 | 第54-58页 |
| 4.4 具有并联电容的E类功率放大器的设计 | 第58-72页 |
| 4.4.1 射频功率放大器的设计步骤 | 第58页 |
| 4.4.2 基于AWR的E类功放的设计和仿真 | 第58-69页 |
| 4.4.3 E类功放的装配和调试 | 第69-72页 |
| 4.5 本章小结 | 第72-74页 |
| 5 总结与展望 | 第74-76页 |
| 5.1 主要结论 | 第74页 |
| 5.2 工作展望 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-84页 |
| 附录 | 第84页 |
| A.作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第84页 |
| B.作者在攻读学位期间参与的研究项目 | 第84页 |
