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基于光纤传感器的深孔内表面粗糙度测量方法研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第一章 绪论第12-24页
    1.1 课题背景和意义第12页
    1.2 表面粗糙度测量方法研究现状第12-17页
        1.2.1 接触式测量方法第13-14页
        1.2.2 非接触式测量方法第14-17页
    1.3 深孔内表面粗糙度测量方法研究现状第17-22页
    1.4 论文主要研究内容及结构第22-24页
第二章 内表面粗糙度光纤传感器检测原理分析与设计第24-39页
    2.1 RIM-FOS工作原理第24-28页
        2.1.1 光强调制函数第24-27页
        2.1.2 RIM-FOS表面粗糙度测量原理分析第27-28页
    2.2 传感器特征参数对光强调制特性的影响规律第28-33页
        2.2.1 发送光纤纤芯半径影响因子第29页
        2.2.2 接收光纤纤芯芯径影响因子第29-30页
        2.2.3 发送光纤数值孔径影响因子第30-31页
        2.2.4 光纤轴间距影响因子第31-32页
        2.2.5 特征参数对光强调制特性的影响规律第32-33页
    2.3 单路RIM-FOS原理设计第33-37页
        2.3.1 光路设计第33-35页
        2.3.2 光纤参数选取第35-37页
        2.3.3 光纤束端面结构选择第37页
    2.4 小结第37-39页
第三章 阵列式深孔内表面粗糙度测量原理第39-48页
    3.1 光纤传感阵列检测原理与布设第39-41页
        3.1.1 光纤传感阵列检测原理第39-40页
        3.1.2 光纤传感阵列布设第40-41页
    3.2 深孔内表面粗糙测量系统总体工作原理第41-42页
    3.3 系统测量粗糙度数学模型第42-47页
    3.4 小结第47-48页
第四章 系统设计与试验平台搭建第48-71页
    4.1 光纤传感阵列结构设计第48-51页
        4.1.1 单路光纤传感器结构设计第48-50页
        4.1.2 阵列测头结构设计第50-51页
    4.2 光源模块第51-52页
    4.3 光电检测模块设计第52-61页
        4.3.1 光探测器选择第52-53页
        4.3.2 光电检测电路设计第53-60页
        4.3.3 光电检测模块搭建与调试第60-61页
    4.4 运动控制模块设计第61-62页
    4.5 数据采集与显示系统第62-67页
    4.6 试验平台搭建第67-70页
        4.6.1 特性测试系统试验平台搭建第67-68页
        4.6.2 特性标定系统试验平台搭建第68-69页
        4.6.3 深孔内表面粗糙度测量系统试验平台搭建第69-70页
    4.7 小结第70-71页
第五章 深孔内表面粗糙度系统试验分析第71-85页
    5.1 粗糙度评定理论第71-72页
    5.2 单路RIM-FOS实际特性测试第72-75页
    5.3 单路RIM-FOS特性标定第75-79页
    5.4 深孔内表面粗糙度测量系统性能试验与误差分析第79-84页
        5.4.1 系统测量稳定性试验分析第79-82页
        5.4.2 系统测量数据有效性试验分析第82-83页
        5.4.3 测量结果影响因素分析第83-84页
    5.5 小结第84-85页
第六章 总结与展望第85-87页
    6.1 总结第85页
    6.2 展望第85-87页
参考文献第87-92页
致谢第92-93页
攻读硕士学位期间发表的学术成果第93页

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