基于硅漂移探测器的高速模拟多道设计
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 脉冲幅度分析技术 | 第12-14页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第14-15页 |
| 1.4 本文的结构组织 | 第15-16页 |
| 第2章 硅漂移探测器及系统设计 | 第16-23页 |
| 2.1 硅漂移探测器 | 第16-18页 |
| 2.1.1 硅漂移探测器结构 | 第16-17页 |
| 2.1.2 硅漂移探测的电荷收集 | 第17页 |
| 2.1.3 硅漂移探测器的信号读出 | 第17-18页 |
| 2.2 系统设计 | 第18-23页 |
| 2.2.1 系统结构设计 | 第18-20页 |
| 2.2.2 时序设计 | 第20-23页 |
| 第3章 硬件电路设计 | 第23-50页 |
| 3.1 模拟前端调节电路 | 第24-29页 |
| 3.1.1 线性衰减与保护电路 | 第24-25页 |
| 3.1.2 同相放大电路 | 第25页 |
| 3.1.3 CR微分电路 | 第25-27页 |
| 3.1.4 增益调节 | 第27-29页 |
| 3.2 快通道电路设计 | 第29-31页 |
| 3.2.1 前端缓冲电路 | 第29页 |
| 3.2.2 快速反卷积电路 | 第29-30页 |
| 3.2.3 高速比较电路 | 第30-31页 |
| 3.3 慢通道电路设计 | 第31-35页 |
| 3.3.1 同相加法电路 | 第31-32页 |
| 3.3.2 高速S-K滤波成形电路 | 第32-33页 |
| 3.3.3 高速峰值采样与保持电路 | 第33-35页 |
| 3.3.4 峰值判断电路 | 第35页 |
| 3.4 ADC处理电路 | 第35-38页 |
| 3.4.1 ADC差分驱动电路 | 第36-37页 |
| 3.4.2 高速ADC采集电路 | 第37-38页 |
| 3.5 模拟电路器件选型 | 第38-43页 |
| 3.5.1 运算放大器选型 | 第38-40页 |
| 3.5.2 高速模拟开关选型 | 第40-41页 |
| 3.5.3 高速比较器选型 | 第41-42页 |
| 3.5.4 高速ADC选型 | 第42-43页 |
| 3.6 数字电路设计 | 第43-44页 |
| 3.6.1 FPGA电路设计 | 第43页 |
| 3.6.2 微控制器电路设计 | 第43-44页 |
| 3.7 多道系统电源设计 | 第44-48页 |
| 3.7.1 电源输入端结构 | 第44-45页 |
| 3.7.2 模拟电源 | 第45-47页 |
| 3.7.3 数字电源 | 第47-48页 |
| 3.8 PCB布板设计 | 第48-50页 |
| 第4章 控制时序设计 | 第50-54页 |
| 4.1 系统架构 | 第50页 |
| 4.2 FPGA逻辑实现 | 第50-52页 |
| 4.2.1 ADC数据采集与传输 | 第51-52页 |
| 4.2.2 模拟控制 | 第52页 |
| 4.3 微控制器 | 第52-54页 |
| 第5章 系统性能测试 | 第54-64页 |
| 5.1 电源性能测试 | 第54-55页 |
| 5.2 模拟单元性能测试 | 第55-62页 |
| 5.2.1 模拟前端电路 | 第55-56页 |
| 5.2.2 快通道快速反卷积电路测试 | 第56-57页 |
| 5.2.3 慢通道高速S-K滤波成形电路测试 | 第57-59页 |
| 5.2.4 慢通道高速峰值采样保持电路测试 | 第59-62页 |
| 5.3 能谱性能测试 | 第62-64页 |
| 结论 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 攻读硕士期间取得学术成果 | 第71页 |
