摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
引言 | 第8-9页 |
1 原子力显微镜 | 第9-23页 |
·原子力显微镜工作原理 | 第9-10页 |
·原子力显微镜力检测器 | 第10-11页 |
·力传感器 | 第10-11页 |
·光电检测器 | 第11页 |
·原子力显微镜工作模式 | 第11-13页 |
·接触模式 | 第12页 |
·非接触模式 | 第12-13页 |
·轻敲模式 | 第13页 |
·原子力显微镜的力曲线 | 第13-15页 |
·原子力显微镜的应用 | 第15-23页 |
·在材料成像和测试中的应用 | 第15-17页 |
·在生物医学领域的应用 | 第17页 |
·在电化学领域的应用 | 第17-18页 |
·微机械加工与操纵 | 第18-19页 |
·在超高密度存储中的应用 | 第19-23页 |
2 原子力显微镜成像实验 | 第23-39页 |
·研究单根碳纳米线圈 | 第23-26页 |
·样品制备和实验仪器 | 第23-24页 |
·结果和讨论 | 第24-26页 |
·研究ZnO薄膜的生长条件 | 第26-33页 |
·样品的制备 | 第27页 |
·样品的测试 | 第27-28页 |
·结果与讨论 | 第28-33页 |
·原子力显微镜成像方法的研究 | 第33-38页 |
·反馈调节改善成像质量 | 第33-35页 |
·对图像扭曲进行矫正来改善成像质量 | 第35-36页 |
·针尖磨损对成像质量的影响 | 第36-37页 |
·噪声对成像质量的影响 | 第37-38页 |
·小结 | 第38-39页 |
3 近场光存储 | 第39-50页 |
·表面等离子体极化激元 | 第39-40页 |
·近场光存储实验系统设计 | 第40-42页 |
·激光器脉冲调制 | 第42-44页 |
·Ge_2Sb_2Te_5薄膜的初步激光热效应研究 | 第44-49页 |
·相变光存储材料简介 | 第44-45页 |
·Ge_2Sb_2Te_5薄膜热效应实验 | 第45-49页 |
·小结 | 第49-50页 |
结论 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-55页 |
攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第55-56页 |
致谢 | 第56-58页 |