| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-24页 |
| 1.1 选题背景 | 第11-17页 |
| 1.1.1 环境与能源危机 | 第11-12页 |
| 1.1.2 氢能的利用 | 第12-17页 |
| 1.2 铂(Pt)、铜(Cu)、铈(Ce)元素概述 | 第17-18页 |
| 1.2.1 贵金属Pt概述 | 第17页 |
| 1.2.2 过渡金属Cu的概述 | 第17-18页 |
| 1.2.3 稀土元素Ce的概述 | 第18页 |
| 1.3 影响催化催化剂性能的因素 | 第18-19页 |
| 1.4 Pt基催化电极的制备与后处理 | 第19-22页 |
| 1.4.1 Pt基催化电极的制备技术 | 第19-21页 |
| 1.4.2 催化电极的后处理技术 | 第21-22页 |
| 1.5 本文研究内容 | 第22-24页 |
| 1.5.1 研究思路和研究目的 | 第22页 |
| 1.5.2 研究内容 | 第22-23页 |
| 1.5.3 研究特色 | 第23-24页 |
| 第二章 薄膜催化电极的制备与表征 | 第24-44页 |
| 2.1 实验材料与仪器 | 第24-26页 |
| 2.2 薄膜催化电极的制备 | 第26-36页 |
| 2.2.1 IBS技术制备原理 | 第26-27页 |
| 2.2.2 样品制备过程 | 第27-33页 |
| 2.2.3 实验方案与样品编号 | 第33-36页 |
| 2.3 电化学性能测试方法 | 第36-40页 |
| 2.3.1 三电极单密封电解池体系 | 第36-37页 |
| 2.3.2 电化学性能表征 | 第37-40页 |
| 2.4 结构测试方法 | 第40-44页 |
| 2.4.1 XRD | 第40页 |
| 2.4.2 XPS | 第40-42页 |
| 2.4.3 AFM | 第42页 |
| 2.4.4 HRTEM | 第42-43页 |
| 2.4.5 ICP-AES | 第43-44页 |
| 第三章 助催化剂的掺杂方式分析 | 第44-52页 |
| 3.1 P、Q系列电化学性能分析 | 第44-45页 |
| 3.2 T、R、V系列电化学性能与结构分析 | 第45-51页 |
| 3.2.1 T系列电化学性能分析 | 第45页 |
| 3.2.2 R系列电化学性能与结构分析 | 第45-49页 |
| 3.2.3 V系列样品电化学性能分析 | 第49-51页 |
| 3.3 本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 活性金属原子浓度梯度膜的结构性能表征 | 第52-71页 |
| 4.1 活性金属原子浓度梯度的成分梯度分析 | 第52-54页 |
| 4.2 原子浓度梯度薄膜的自由腐蚀 | 第54-56页 |
| 4.3 原子浓度梯度薄膜的超声波腐蚀 | 第56-62页 |
| 4.3.1 电化学性能分析 | 第56-58页 |
| 4.3.2 AFM表征 | 第58-61页 |
| 4.3.3 STEM表征 | 第61-62页 |
| 4.4 原子浓度梯度薄膜的电解腐蚀 | 第62-69页 |
| 4.4.1 电化学性能分析以及元素定量分析 | 第63-64页 |
| 4.4.2 ICP-AES成分定量分析和XRD物相鉴定 | 第64-65页 |
| 4.4.3 STEM&HRTEM微观形貌分析 | 第65-68页 |
| 4.4.4 AFM形貌分析 | 第68-69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 第五章 CeO_x担载PtCu梯度薄膜的结构性能分析 | 第71-79页 |
| 5.1 电化学性能分析 | 第71-72页 |
| 5.2 N系列样品XPS分析 | 第72-78页 |
| 5.3 本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 结论与展望 | 第79-81页 |
| 6.1 结论 | 第79页 |
| 6.2 本文的创新点 | 第79-80页 |
| 6.3 展望 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-87页 |
| 附录 (研究生期间发表论文和专利) | 第87页 |
