摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-16页 |
1.1 前言 | 第11页 |
1.2 国内外发展现状 | 第11-12页 |
1.3 课题研究的背景及意义 | 第12页 |
1.4 LKJ2000 列车监控装置介绍 | 第12-14页 |
1.4.1 LKJ2000 列车监控装置构成 | 第13页 |
1.4.2 LKJ2000 列车监控装置的主要功能 | 第13-14页 |
1.4.3 LKJ2000 列车监控装置内部的通信方式 | 第14页 |
1.5 本文主要内容 | 第14-16页 |
第2章 双冗余人机交互系统总体设计方案 | 第16-25页 |
2.1 LKJ2000 列车监控装置人机交互系统介绍 | 第16-18页 |
2.1.1 LKJ2000 列车监控装置人机交互系统的构成 | 第16-17页 |
2.1.2 LKJ2000 列车监控装置人机交互系统功能介绍 | 第17页 |
2.1.3 LKJ2000 列车监控装置人机交互系统的不足 | 第17-18页 |
2.2 双冗余人机交互系统设计功能需求 | 第18-19页 |
2.3 双冗余人机交互系统总体设计方案 | 第19-22页 |
2.3.1 双冗余人机交互系统模块化设计 | 第20页 |
2.3.2 双冗余人机交互系统的冗余设计 | 第20-22页 |
2.3.3 双冗余人机交互系统的技术改进 | 第22页 |
2.4 双冗余人机交互系统硬件平台设计 | 第22-24页 |
2.4.1 嵌入式微处理器介绍 | 第22-23页 |
2.4.2 双冗余人机交互系统主显硬件平台设计 | 第23-24页 |
2.4.3 双冗余人机交互系统辅显硬件平台设计 | 第24页 |
2.5 本章小结 | 第24-25页 |
第3章 双冗余人机交互系统硬件设计 | 第25-45页 |
3.1 电源模块设计 | 第25-29页 |
3.1.1 主显电源模块设计 | 第25-28页 |
3.1.2 辅显电源模块设计 | 第28-29页 |
3.2 主显功能模块电路设计 | 第29-37页 |
3.2.1 ARM 处理器电路 | 第29-31页 |
3.2.2 DDR2 SDRAM 电路 | 第31-32页 |
3.2.3 NAND Flash 电路 | 第32页 |
3.2.4 可编程逻辑电路 | 第32-33页 |
3.2.5 LVDS LCD 接口电路 | 第33-35页 |
3.2.6 以太网接口电路 | 第35页 |
3.2.7 语音输出电路 | 第35-36页 |
3.2.8 扩展串口电路 | 第36-37页 |
3.2.9 LCD 背光调节电路 | 第37页 |
3.3 辅显功能模块电路设计 | 第37-41页 |
3.3.1 MRAM 电路 | 第38-39页 |
3.3.2 TTL LCD 接口电路 | 第39-40页 |
3.3.3 温湿度采集电路 | 第40页 |
3.3.4 USB 接口电路 | 第40-41页 |
3.4 通信模块电路设计 | 第41-44页 |
3.4.1 CAN 总线电路 | 第41-42页 |
3.4.2 RS485 接口电路 | 第42-43页 |
3.4.3 RS232 接口电路 | 第43-44页 |
3.4.4 主辅显通信电路 | 第44页 |
3.5 本章小结 | 第44-45页 |
第4章 双冗余人机交互系统软件设计 | 第45-59页 |
4.1 嵌入式 LINUX 系统简介 | 第45-46页 |
4.2 嵌入式 LINUX 交叉开发环境的搭建 | 第46-48页 |
4.2.1 嵌入式 Linux 交叉开发软件环境的搭建 | 第46-48页 |
4.2.2 超级终端的配置 | 第48页 |
4.3 LINUX 操作系统移植 | 第48-55页 |
4.3.1 Bootloader 的移植 | 第48-50页 |
4.3.2 Linux 内核移植 | 第50-53页 |
4.3.3 文件系统的移植 | 第53-55页 |
4.4 设备驱动开发 | 第55-58页 |
4.5 本章小结 | 第58-59页 |
第5章 双冗余人机交互系统测试 | 第59-68页 |
5.1 系统功能测试 | 第59-64页 |
5.1.1 LCD 模块测试 | 第60页 |
5.1.2 CAN 总线测试 | 第60-62页 |
5.1.3 USB 接口测试 | 第62页 |
5.1.4 温湿度采集模块测试 | 第62-64页 |
5.1.5 警惕输出测试 | 第64页 |
5.1.6 语音输出测试 | 第64页 |
5.2 系统可靠性测试 | 第64-67页 |
5.2.1 高低温测试 | 第64-65页 |
5.2.2 绝缘耐压测试 | 第65-66页 |
5.2.3 电磁兼容性测试 | 第66-67页 |
5.3 本章小结 | 第67-68页 |
总结和展望 | 第68-70页 |
参考文献 | 第70-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
附录A 攻读学位期间所发表的学术论文 | 第74-75页 |
附录B 重点电路原理图 | 第75-77页 |
附录C 攻读学位期间所参与的科研项目 | 第77页 |