| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 引言 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-23页 |
| 1.1 TiO_2薄膜光催化材料 | 第13-18页 |
| 1.1.1 TiO_2薄膜的制备 | 第13-15页 |
| 1.1.2 TiO_2掺杂改性研究 | 第15-18页 |
| 1.2 BiVO_4光催化材料 | 第18-20页 |
| 1.2.1 BiVO_4的结构与性能 | 第18-19页 |
| 1.2.2 BiVO_4的制备 | 第19-20页 |
| 1.3 SiO_2薄膜 | 第20-21页 |
| 1.3.1 SiO_2薄膜的功能应用 | 第20页 |
| 1.3.2 SiO_2薄膜的制备 | 第20-21页 |
| 1.4 选题意义及研究内容 | 第21-22页 |
| 1.4.1 选题意义 | 第21页 |
| 1.4.2 研究内容 | 第21-22页 |
| 1.5 研究目标及论文特色 | 第22-23页 |
| 1.5.1 研究目标 | 第22页 |
| 1.5.2 论文特色 | 第22-23页 |
| 第二章 实验方法和表征手段 | 第23-26页 |
| 2.1 薄膜的结构表征 | 第23页 |
| 2.1.1 X射线衍射仪（XRD） | 第23页 |
| 2.1.2 扫描电子显微镜（SEM） | 第23页 |
| 2.1.3 紫外-可见光谱（UV-Vis） | 第23页 |
| 2.2 薄膜的性能测定 | 第23-26页 |
| 2.2.1 薄膜的光催化活性测定 | 第23-24页 |
| 2.2.2 薄膜的自清洁性能测定 | 第24-26页 |
| 第三章 TiO_2薄膜的制备与研究 | 第26-37页 |
| 3.1 实验部分 | 第26-28页 |
| 3.1.1 实验试剂 | 第26页 |
| 3.1.2 实验仪器 | 第26页 |
| 3.1.3 实验原理 | 第26-27页 |
| 3.1.4 实验过程 | 第27-28页 |
| 3.2 实验结果与讨论 | 第28-32页 |
| 3.2.1 X射线衍射仪（XRD ）分析 | 第28-29页 |
| 3.2.2 扫描电子显微镜（SEM） | 第29-30页 |
| 3.2.3 UV-Vis光谱分析 | 第30-32页 |
| 3.3 TiO_2薄膜及T-1薄膜降解亚甲基蓝 | 第32-34页 |
| 3.3.1 实验试剂及实验仪器 | 第32页 |
| 3.3.2 实验过程 | 第32-33页 |
| 3.3.3 实验结果与讨论 | 第33-34页 |
| 3.4 TiO_2薄膜及T-1薄膜亲水性能测试 | 第34-35页 |
| 3.5 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 BiVO_4的制备与研究 | 第37-44页 |
| 4.1 实验部分 | 第37-38页 |
| 4.1.1 实验试剂 | 第37页 |
| 4.1.2 实验仪器 | 第37页 |
| 4.1.3 实验原理 | 第37-38页 |
| 4.1.4 实验过程 | 第38页 |
| 4.2 实验结果与讨论 | 第38-41页 |
| 4.2.1 X射线衍射仪（XRD） | 第38-39页 |
| 4.2.2 扫描电子显微镜（SEM） | 第39-40页 |
| 4.2.3 UV-Vis光谱分析 | 第40-41页 |
| 4.3 BiVO_4薄膜降解亚甲基蓝 | 第41-42页 |
| 4.3.1 实验试剂及实验仪器 | 第41页 |
| 4.3.2 实验过程 | 第41页 |
| 4.3.3 实验结果与讨论 | 第41-42页 |
| 4.4 接触角的测定 | 第42页 |
| 4.5 本章小结 | 第42-44页 |
| 第五章 TiO_2/BiVO_4薄膜的制备 | 第44-50页 |
| 5.1 实验部分 | 第44-45页 |
| 5.1.1 实验试剂 | 第44页 |
| 5.1.2 实验设备 | 第44页 |
| 5.1.3 实验过程 | 第44-45页 |
| 5.2 实验结果与讨论 | 第45-47页 |
| 5.2.1 X射线衍射（XRD） | 第45页 |
| 5.2.2 扫描电子显微镜（SEM） | 第45-46页 |
| 5.2.3 Uv-Vis光谱分析 | 第46-47页 |
| 5.3 降解亚甲基蓝溶液 | 第47-48页 |
| 5.3.1 实验试剂与仪器 | 第47页 |
| 5.3.2 实验过程 | 第47页 |
| 5.3.3 实验结果与讨论 | 第47-48页 |
| 5.4 接触角测定 | 第48页 |
| 5.5 本章小结 | 第48-50页 |
| 第六章 SiO_2薄膜的制备与性能研究 | 第50-55页 |
| 6.1 实验部分 | 第50-51页 |
| 6.1.1 实验试剂 | 第50页 |
| 6.1.2 实验设备 | 第50页 |
| 6.1.3 实验原理 | 第50-51页 |
| 6.1.4 实验过程 | 第51页 |
| 6.2 实验结果与讨论 | 第51-53页 |
| 6.2.1 X射线衍射（XRD） | 第51-52页 |
| 6.2.2 扫描电子显微镜（SEM） | 第52页 |
| 6.2.3 Uv-Vis光谱分析 | 第52-53页 |
| 6.3 接触角的测定 | 第53页 |
| 6.4 本章小结 | 第53-55页 |
| 第七章 SiO_2/BiVO_4/TiO_2薄膜的制备 | 第55-59页 |
| 7.1 实验部分 | 第55-56页 |
| 7.1.1 实验试剂 | 第55页 |
| 7.1.2 实验设备 | 第55页 |
| 7.1.3 实验过程 | 第55-56页 |
| 7.2 实验结果与讨论 | 第56页 |
| 7.2.1 Uv-Vis光谱分析 | 第56页 |
| 7.3 SiO_2/BiVO_4/TiO_2薄膜降解亚甲基蓝 | 第56-57页 |
| 7.3.1 实验试剂与仪器 | 第56页 |
| 7.3.2 实验过程 | 第56页 |
| 7.3.3 实验结果与讨论 | 第56-57页 |
| 7.4 接触角的测定 | 第57页 |
| 7.5 本章小结 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 后记或致谢 | 第66-67页 |
| 作者简介及读研期间主要科研成果 | 第67页 |