基于红外检测方法的劣化绝缘子便携式带电检测系统研发
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 课题来源与主要内容 | 第15-16页 |
| 1.4 课题主要创新点 | 第16-18页 |
| 第2章 劣化绝缘子红外检测相关理论 | 第18-27页 |
| 2.1 劣化绝缘子 | 第18-19页 |
| 2.1.1 绝缘子劣化的原因 | 第18-19页 |
| 2.1.2 劣化绝缘子的危害 | 第19页 |
| 2.1.3 劣化绝缘子的发热特征 | 第19页 |
| 2.2 红外检测原理及特点 | 第19-22页 |
| 2.2.1 红外检测原理 | 第20页 |
| 2.2.2 红外检测特点 | 第20-21页 |
| 2.2.3 红外热像检测的基本方法 | 第21-22页 |
| 2.3 图像处理 | 第22-26页 |
| 2.3.1 预处理 | 第22-24页 |
| 2.3.2 图像分割 | 第24-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 绝缘子发热特征实验室研究 | 第27-45页 |
| 3.1 试验装置和试品 | 第27-29页 |
| 3.1.1 加压装置 | 第27页 |
| 3.1.2 红外成像测试仪 | 第27-28页 |
| 3.1.3 热雾系统 | 第28-29页 |
| 3.1.4 试品 | 第29页 |
| 3.2 绝缘子热稳定时间测试 | 第29-31页 |
| 3.3 正常绝缘子串的电压分布规律和温升特征 | 第31-32页 |
| 3.4 劣化绝缘子串的电压分布规律和温升特征 | 第32-38页 |
| 3.4.1 零值绝缘子温升特征 | 第32-34页 |
| 3.4.2 低值绝缘子位置的影响 | 第34-35页 |
| 3.4.3 绝缘子阻值的影响 | 第35-38页 |
| 3.5 环境因素对绝缘子温升特征的影响 | 第38-43页 |
| 3.5.1 环境温度的影响 | 第38-39页 |
| 3.5.2 环境湿度的影响 | 第39-40页 |
| 3.5.3 绝缘子表面污秽的影响 | 第40-42页 |
| 3.5.4 环境风速的影响 | 第42-43页 |
| 3.6 检测盲区验证试验 | 第43-44页 |
| 3.7 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 劣化绝缘子红外检测的实现 | 第45-59页 |
| 4.1 红外检测流程 | 第45页 |
| 4.2 图像采集输入 | 第45-46页 |
| 4.3 检测中的图像处理 | 第46-51页 |
| 4.4 劣化绝缘子检测方法 | 第51-57页 |
| 4.4.1 基准温度特征法 | 第52-55页 |
| 4.4.2 利用BP神经网络的劣化绝缘子识别 | 第55-57页 |
| 4.5 现场检测案例分析 | 第57-58页 |
| 4.5.1 220kV白沙变检测结果 | 第57-58页 |
| 4.5.2 220kV上饶变检测结果 | 第58页 |
| 4.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 检测系统功能设计与研发 | 第59-68页 |
| 5.1 系统建设思路及设计原则 | 第59-61页 |
| 5.1.1 系统建设目标 | 第59页 |
| 5.1.2 系统系统检测流程设计 | 第59-60页 |
| 5.1.3 系统设计总体原则 | 第60-61页 |
| 5.2 系统技术基础 | 第61-62页 |
| 5.2.1 硬件配置及支撑软件 | 第61页 |
| 5.2.2 开发软件 | 第61-62页 |
| 5.3 系统功能设计 | 第62-64页 |
| 5.3.1 工作模式 | 第62-63页 |
| 5.3.2 系统功能 | 第63-64页 |
| 5.4 系统展示 | 第64-67页 |
| 5.4.1 系统终端及操作 | 第64-65页 |
| 5.4.2 检测系统界面 | 第65-67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 结论与展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间所发表的主要学术论文目录 | 第76-77页 |
| 附录B 攻读学位期间所参加的科研项目目录 | 第77页 |
