| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 课题的国内外研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 继电器寿命试验及设备相关现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 继电器可靠性相关研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 测试/试验系统测量系统分析国内外现状 | 第13-14页 |
| 1.3 测试/试验系统可靠性研究与测量系统分析关系 | 第14-15页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 电磁继电器寿命试验系统可靠性分析 | 第17-26页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 寿命试验系统功能与结构 | 第17-21页 |
| 2.2.1 寿命试验系统功能 | 第17-18页 |
| 2.2.2 寿命试验系统结构 | 第18-21页 |
| 2.3 寿命试验系统可靠性分析 | 第21-25页 |
| 2.3.1 寿命试验系统可靠性模型 | 第21-23页 |
| 2.3.2 寿命试验系统可靠性预计 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 基于Bayes方法的系统可靠性验证及评定 | 第26-36页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 公司内现有寿命试验系统试验情况 | 第26-27页 |
| 3.3 寿命试验系统验证试验方案的设计 | 第27-29页 |
| 3.4 验证试验的Bayes评定 | 第29-34页 |
| 3.4.1 Bayes评定简述 | 第29-30页 |
| 3.4.2 验前分布的确定 | 第30-33页 |
| 3.4.3 系统寿命试验结果的Bayes评定 | 第33-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-36页 |
| 第4章 基于MSA方法的电磁继电器寿命试验系统分析 | 第36-56页 |
| 4.1 引言 | 第36页 |
| 4.2 MSA分析流程与步骤 | 第36-41页 |
| 4.2.1 系统分析流程 | 第37-38页 |
| 4.2.2 系统分析步骤 | 第38-41页 |
| 4.3 寿命试验系统稳定性评定 | 第41-46页 |
| 4.3.1 稳定性分析流程 | 第41页 |
| 4.3.2 寿命试验系统稳定性评定 | 第41-46页 |
| 4.4 寿命试验系统偏倚特性评定 | 第46-49页 |
| 4.4.1 分析偏倚特性步骤 | 第46-47页 |
| 4.4.2 寿命试验系统偏倚评定 | 第47-49页 |
| 4.5 寿命试验系统重复性和再现性（系统GRR）评定 | 第49-54页 |
| 4.5.1 GRR可接受准则及与工序指数的关系 | 第49-50页 |
| 4.5.2 系统重复性和再现性研究 | 第50-51页 |
| 4.5.3 寿命试验系统GRR评定 | 第51-54页 |
| 4.6 本章小结 | 第54-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 附录A 试验系统稳定性分析报告 | 第61-65页 |
| 附录B 试验系统GRR分析报告 | 第65-71页 |
| 读硕士学位期间发表的学术论文 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 个人简历 | 第74页 |
