等离子体浓度分布微波测试技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 等离子体浓度及分布微波诊断方法 | 第10-18页 |
| 1.2.1 介入式微波诊断方法 | 第10-14页 |
| 1.2.2 非介入式微波诊断方法 | 第14-18页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第18-19页 |
| 第二章 等离子体特性 | 第19-26页 |
| 2.1 等离子体内涵 | 第19-20页 |
| 2.1.1 等离子体概念 | 第19-20页 |
| 2.1.2 等离子体基本性质 | 第20页 |
| 2.2 等离子体主要特征量 | 第20-25页 |
| 2.2.1 粒子密度 | 第20页 |
| 2.2.2 等离子体温度 | 第20页 |
| 2.2.3 德拜屏蔽 | 第20-21页 |
| 2.2.4 等离子体判据 | 第21-22页 |
| 2.2.5 等离子体振荡频率 | 第22-23页 |
| 2.2.6 等离子体介电性 | 第23-25页 |
| 2.3 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于反射法等离子体浓度分布检测理论 | 第26-53页 |
| 3.1 电磁波在等离子体中的反射 | 第26-40页 |
| 3.1.1 等离子体中波动方程和色散关系 | 第26-27页 |
| 3.1.2 电磁波在非磁化等离子体中的传播 | 第27-29页 |
| 3.1.3 等离子体对电磁波反射特性分析 | 第29-40页 |
| 3.2 微波反射法等离子体检测理论 | 第40-52页 |
| 3.2.1 微波截止反射法理论分析 | 第40-41页 |
| 3.2.2 利用点频辐射天线检测等离子体 | 第41-47页 |
| 3.2.3 等离子体浓度分布参数提取 | 第47-51页 |
| 3.2.4 遗传算法计算电子密度 | 第51-52页 |
| 3.3 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 天线设计和测试系统 | 第53-68页 |
| 4.1 多频点辐射天线设计 | 第53-64页 |
| 4.1.1 多频天线概述 | 第53-54页 |
| 4.1.2 电磁耦合方形环状多频天线设计 | 第54-63页 |
| 4.1.3 加工与实测 | 第63-64页 |
| 4.2 测试系统集成 | 第64-67页 |
| 4.2.1 等离子体源 | 第64-65页 |
| 4.2.2 测试系统及测试流程 | 第65-67页 |
| 4.3 本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 测试结果与误差分析 | 第68-75页 |
| 5.1 实验结果 | 第68-73页 |
| 5.1.1 典型测试曲线 | 第70-71页 |
| 5.1.2 测试数据 | 第71-73页 |
| 5.2 误差分析 | 第73-74页 |
| 5.3 本章小结 | 第74-75页 |
| 第六章 总结 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第80-81页 |
