| 摘 要 | 第2-3页 |
| Abstract | 第3页 |
| 前言 | 第5-13页 |
| 目录` | 第13-15页 |
| 第一章 云纹干涉法基本理论 | 第15-27页 |
| 1.1 引言 | 第15页 |
| 1.2 云纹干涉法的基本原理 | 第15-22页 |
| 1.3 制栅技术 | 第22-24页 |
| 1.4 云纹干涉测试系统 | 第24-25页 |
| 1.5 小结 | 第25-27页 |
| 第二章 云纹干涉实验图像的处理及自编软件 | 第27-48页 |
| 2.1 引言 | 第27页 |
| 2.2 数字图像基本原理 | 第27-30页 |
| 2.3 云纹干涉条纹图像的增强与去噪 | 第30-35页 |
| 2.4 相位技术与平面位移场的计算 | 第35-40页 |
| 2.5 应变分布和材料常数的计算 | 第40页 |
| 2.6 基于VC＋＋的自编云纹干涉图像处理与计算软件 | 第40-47页 |
| 2.7 小结 | 第47-48页 |
| 第三章 RIPI去包裹法及其在云纹干涉图像处理中的应用 | 第48-62页 |
| 3.1 引言 | 第48页 |
| 3.2 去包裹的数学原理及各类方法简介 | 第48-50页 |
| 3.3 RIPI去包裹的基本原理和数学解释 | 第50-52页 |
| 3.4 RIPI去包裹的算法及其程序实现 | 第52-57页 |
| 3.5 RIPI去包裹在云纹干涉实验图像处理中的应用 | 第57-60页 |
| 3.6 小结 | 第60-62页 |
| 第四章 压电陶瓷的云纹干涉实验方法 | 第62-77页 |
| 4.1 引言 | 第62页 |
| 4.2 压电陶瓷简介 | 第62-64页 |
| 4.3 硅橡胶试件栅--绝缘隔层一体化实验技术 | 第64-68页 |
| 4.4 低衍射率试件栅的云纹干涉实验及其图像处理与分析 | 第68-70页 |
| 4.5 一体化实验技术应用于压电陶瓷－环氧树脂复合结构界面实验 | 第70-76页 |
| 4.6 小结 | 第76-77页 |
| 第五章 多层压电陶瓷位移控制器结构的破坏与优化分析 | 第77-90页 |
| 5.1 引言:工程应用中的破坏问题 | 第77-78页 |
| 5.2 多层压电结构模型的建立 | 第78-79页 |
| 5.3 多层压电结构常规模型试件的云纹干涉实验 | 第79-82页 |
| 5.4 结果讨论与分析 | 第82-88页 |
| 5.5 小结 | 第88-90页 |
| 第六章 总 结 | 第90-93页 |
| 参考文献 | 第93-98页 |
