摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第1章 绪论 | 第8-14页 |
1.1 课题背景及意义 | 第8-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
1.3 论文主要研究内容 | 第11-14页 |
第2章 实验平台建立与数据采集 | 第14-30页 |
2.1 电弧故障实验平台建立 | 第14-19页 |
2.2 实验数据采集系统 | 第19-20页 |
2.3 实验方案设计 | 第20-22页 |
2.4 实验 | 第22-29页 |
2.4.1 点接触电弧实验 | 第22-25页 |
2.4.2 串并联碳化路径电弧实验 | 第25-28页 |
2.4.3 金属性接触电弧实验 | 第28-29页 |
2.5 本章小结 | 第29-30页 |
第3章 电弧故障信号分析及特征识别 | 第30-56页 |
3.1 电弧故障特征信号分析 | 第30-43页 |
3.1.1 点接触电弧故障信号分析 | 第30-36页 |
3.1.2 串并联碳化路径电弧故障信号分析 | 第36-42页 |
3.1.3 金属性接触电弧故障信号分析 | 第42-43页 |
3.2 电弧故障特征信号提取 | 第43-48页 |
3.3 检测阈值选取及电弧识别 | 第48-50页 |
3.4 基于虚拟仪器的电弧故障识别算法验证 | 第50-53页 |
3.4.1 基于虚拟仪器的测试系统 | 第50-52页 |
3.4.2 实验验证 | 第52-53页 |
3.5 本章小结 | 第53-56页 |
第4章 电弧故障检测装置功能指标测试系统的设计 | 第56-86页 |
4.1 硬件设计 | 第56-69页 |
4.1.1 硬件结构框图 | 第56-57页 |
4.1.2 AC/DC电源模块 | 第57-59页 |
4.1.3 信号调理电路 | 第59-63页 |
4.1.4 模数转换电路 | 第63-64页 |
4.1.5 微处理器模块 | 第64页 |
4.1.6 存储器模块 | 第64-65页 |
4.1.7 液晶屏显示模块 | 第65-66页 |
4.1.8 串口通信模块 | 第66-67页 |
4.1.9 电路板设计 | 第67-69页 |
4.2 软件设计 | 第69-82页 |
4.2.1 uC/OS-II系统与uC/GUI移植 | 第69-71页 |
4.2.2 微处理器的外设配置 | 第71-74页 |
4.2.3 应用程序设计 | 第74-82页 |
4.3 系统调试与验证 | 第82-85页 |
4.3.1 系统调试 | 第82页 |
4.3.2 实验验证 | 第82-85页 |
4.4 本章小结 | 第85-86页 |
第5章 总结与展望 | 第86-88页 |
5.1 总结 | 第86页 |
5.2 展望 | 第86-88页 |
参考文献 | 第88-92页 |
致谢 | 第92-94页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第94页 |