| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-28页 |
| 1.1 引言 | 第12-13页 |
| 1.2 空间环境原子氧简介 | 第13-20页 |
| 1.2.1 低地球轨道环境 | 第13-14页 |
| 1.2.2 原子氧的产生 | 第14-15页 |
| 1.2.3 原子氧对空间材料作用 | 第15-20页 |
| 1.3 材料抗原子氧性能的评估 | 第20-22页 |
| 1.3.1 空间暴露实验 | 第20-21页 |
| 1.3.2 地面模拟实验 | 第21-22页 |
| 1.4 石墨烯 | 第22-27页 |
| 1.4.1 石墨烯概述 | 第22-23页 |
| 1.4.2 石墨烯结构与性能 | 第23-25页 |
| 1.4.3 石墨烯薄膜的制备方法 | 第25-27页 |
| 1.5 本论文设计思想 | 第27-28页 |
| 第二章 石墨烯薄膜制备及测试方法 | 第28-34页 |
| 2.1 引言 | 第28页 |
| 2.2 石墨烯薄膜制备方法 | 第28-31页 |
| 2.3 实验设备和表征技术 | 第31-34页 |
| 2.3.1 原子氧效应地面模拟试验设备 | 第31页 |
| 2.3.2 石英晶体微量天平 | 第31-32页 |
| 2.3.3 傅里叶变换衰减全反射红外光谱测试 | 第32页 |
| 2.3.4 拉曼光谱测试 | 第32页 |
| 2.3.5 X射线衍射测试 | 第32页 |
| 2.3.6 X射线光电子能谱测试 | 第32-33页 |
| 2.3.7 场发射扫描电镜测试 | 第33-34页 |
| 第三章 原子氧辐照下石墨烯薄膜剥蚀率及导电性能的变化 | 第34-42页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 石墨烯薄膜的质量损失及原子氧剥蚀率 | 第34-37页 |
| 3.3 石墨烯薄膜导电性能的研究 | 第37-41页 |
| 3.3.1 石墨烯薄膜电阻的制备 | 第37-39页 |
| 3.3.2 石墨烯薄膜的原子氧辐照实验 | 第39-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 原子氧辐照下石墨烯薄膜化学结构与微观形貌的变化 | 第42-54页 |
| 4.1 引言 | 第42页 |
| 4.2 傅里叶变换衰减全反射红外光谱法 | 第42-44页 |
| 4.3 拉曼光谱测试 | 第44-46页 |
| 4.4 X射线衍射测试 | 第46-48页 |
| 4.5 X射线光电子能谱测试 | 第48-51页 |
| 4.6 扫描电镜测试 | 第51-53页 |
| 4.7 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-61页 |
| 作者简介及科研成果 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |