| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 引言 | 第8-14页 |
| 1.1 GEM探测器 | 第8-11页 |
| 1.1.1 GEM探测器原理 | 第8-9页 |
| 1.1.2 应用现状 | 第9-11页 |
| 1.2 需解决的问题 | 第11-12页 |
| 1.3 选题结构 | 第12-14页 |
| 第二章 GEM探测器读出方案 | 第14-30页 |
| 2.1 性能模拟 | 第14-17页 |
| 2.1.1 信号的产生与收集 | 第14-15页 |
| 2.1.2 ANSYS模拟电场 | 第15-16页 |
| 2.1.3 Garfield++模拟增益与电子束团分布 | 第16-17页 |
| 2.2 GEM探测器不同读出结构 | 第17-23页 |
| 2.2.1 位置误判选问题及其解决方案 | 第17-19页 |
| 2.2.2 一维条读出结构 | 第19-20页 |
| 2.2.3 条+pad读出结构 | 第20-21页 |
| 2.2.4 二维pad读出结构 | 第21页 |
| 2.2.5 三维读出结构 | 第21-22页 |
| 2.2.6 阻性四角读出 | 第22-23页 |
| 2.3 GEM探测器读出方法比较 | 第23-29页 |
| 2.3.1 电荷寻峰 | 第23页 |
| 2.3.3 TOT读出 | 第23-29页 |
| 2.4 基于线性放电TOT方案 | 第29-30页 |
| 第三章 探测器的研制和性能测量 | 第30-60页 |
| 3.1 GEM探测器设计 | 第30-33页 |
| 3.1.1 设计目的 | 第30-31页 |
| 3.1.2 设计参量 | 第31页 |
| 3.1.3 高压设计 | 第31-33页 |
| 3.2 GEM探测器的组装与初步测试 | 第33-36页 |
| 3.2.1 GEM膜的拉伸 | 第33页 |
| 3.2.2 入射窗的制作 | 第33页 |
| 3.2.3 读出板的制作 | 第33-34页 |
| 3.2.4 探测器的组装 | 第34-35页 |
| 3.2.5 高压供电系统 | 第35页 |
| 3.2.6 气密性测试 | 第35-36页 |
| 3.3 GEM探测器供电模式 | 第36-45页 |
| 3.3.1 GEM膜等效电阻 | 第36-37页 |
| 3.3.2 高压供电模式对比 | 第37-39页 |
| 3.3.3 饱和效应问题 | 第39-44页 |
| 3.3.4 小结 | 第44-45页 |
| 3.4 GEM探测器主要读出电子学性能 | 第45-49页 |
| 3.4.1 前置放大器 | 第45-47页 |
| 3.4.2 TIMPIC | 第47-49页 |
| 3.4.3 数据获取 | 第49页 |
| 3.5 GEM探测器性能测量 | 第49-60页 |
| 3.5.1 实验装置 | 第49-51页 |
| 3.5.2 TIMPIC测量 | 第51-56页 |
| 3.5.3 能量分辨率测试 | 第56-57页 |
| 3.5.4 位置分辨率测试 | 第57-58页 |
| 3.5.5 总结 | 第58-60页 |
| 第四章 总结与展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 在学期间研究成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |