| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 斯格明子材料及其发展现状 | 第8-14页 |
| 1.1.1 什么是斯格明子 | 第8-9页 |
| 1.1.2 产生斯格明子机理 | 第9页 |
| 1.1.3 斯格明子研究现状 | 第9-14页 |
| 1.2 六角MM'X体系的晶体结构 | 第14-15页 |
| 1.3 本文的研究意义和内容 | 第15-16页 |
| 第二章 实验方法 | 第16-26页 |
| 2.1 样品制备及方法 | 第16-18页 |
| 2.1.1. 多晶样品的制备 | 第16页 |
| 2.1.2. 薄膜样品的制备 | 第16-17页 |
| 2.1.3. 电镜样品的制备 | 第17-18页 |
| 2.2 测量设备及原理 | 第18-25页 |
| 2.2.1. X射线衍射分析 | 第18-19页 |
| 2.2.2. 扫描电子显微镜与能谱仪 | 第19-20页 |
| 2.2.3. 磁性测量：超导量子干涉磁强计(SQUID) | 第20-21页 |
| 2.2.4. 电输运测量：综合物性测量系统 | 第21页 |
| 2.2.5. 洛伦兹透射电子显微镜 | 第21-24页 |
| 2.2.6. TIE处理方法 | 第24-25页 |
| 2.3. 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 宽温域MnNiGa磁斯格明子的发现 | 第26-38页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 实验方法 | 第26页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第26-36页 |
| 3.3.1. 晶体结构，磁性和输运性质 | 第26-30页 |
| 3.3.2. 磁畴结构 | 第30-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-38页 |
| 第四章 MnNiGa薄膜物性研究 | 第38-48页 |
| 4.1 引言 | 第38页 |
| 4.2 实验方法 | 第38-39页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第39-47页 |
| 4.3.1 晶体结构、成分 | 第39-42页 |
| 4.3.2 输运、磁性测量 | 第42-45页 |
| 4.3.3 拓扑霍尔效应 | 第45-47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 结论与展望 | 第48-50页 |
| 5.1 主要结论 | 第48-49页 |
| 5.2 创新点和展望 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-58页 |
| 个人简历及发表文章目录 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |