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微型化无铅焊点界面反应及力学性能研究

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-8页
1 绪论第23-49页
    1.1 微电子封装技术第23-27页
        1.1.1 微电子封装技术简介第23-24页
        1.1.2 微电子封装技术发展趋势第24-27页
    1.2 无铅互连焊点的界面反应第27-44页
        1.2.1 界面反应概述第27-33页
        1.2.2 界面反应面临的新问题第33-44页
    1.3 微焊点的力学性能第44-46页
    1.4 同步辐射成像技术在微电子封装研究中的应用第46-47页
    1.5 论文的研究思路及研究内容第47-49页
2 实验材料与方法第49-57页
    2.1 实验材料第49页
    2.2 样品制备第49-53页
    2.3 测试分析与表征第53-57页
        2.3.1 同步辐射表征第53-55页
        2.3.2 力学性能测试第55页
        2.3.3 微观组织表征与数据分析第55-57页
3 尺寸效应对界面反应的影响第57-84页
    3.1 引言第57页
    3.2 Sn-xAg-yCu/Cu焊点界面反应的尺寸效应第57-69页
        3.2.1 Cu基体上界面反应的尺寸效应现象第57-58页
        3.2.2 浓度梯度驱动(CGC)界面反应理论模型第58-65页
        3.2.3 模型计算结果与实验结果对比第65-67页
        3.2.4 Cu浓度梯度对界面反应的影响规律第67-69页
    3.3 Sn-3.0Ag-0.5Cu/Ni-P焊点界面反应的尺寸效应第69-77页
        3.3.1 Ni-P基体上界面反应的尺寸效应现象第69页
        3.3.2 Ni-P基体上界面IMC演变规律第69-73页
        3.3.3 Ni-P基体上界面IMC演变机理及其尺寸效应第73-77页
    3.4 Cu/Sn-3.0Ag-0.5Cu/Ni-P焊点界面反应的尺寸效应第77-82页
        3.4.1 界面反应的尺寸效应现象第77-80页
        3.4.2 Cu-Ni交互作用下界面反应的尺寸效应机理第80-82页
    3.5 本章小结第82-84页
4 钎焊工艺过程对界面反应的影响第84-99页
    4.1 引言第84页
    4.2 钎焊工艺过程对界面Cu_6Sn_5生长的影响规律第84-87页
    4.3 钎焊工艺过程中界面Ag_3Sn的溶解与析出行为第87-98页
    4.4 本章小结第98-99页
5 基体晶体取向与交互作用对界面反应的影响第99-132页
    5.1 引言第99页
    5.2 多晶Cu/Sn/多晶Cu微焊点的界面反应第99-107页
        5.2.1 微焊点的微观组织第99-101页
        5.2.2 界面IMC的生长动力学第101-105页
        5.2.3 界面IMC的融合行为第105-107页
    5.3 多晶Cu/Sn/多晶Ni微焊点的界面反应第107-113页
        5.3.1 微焊点的微观组织第107-111页
        5.3.2 界面IMC的生长动力学第111-113页
    5.4 单晶(001)Cu/Sn/单晶(001)Cu微焊点的界面反应第113-121页
        5.4.1 微焊点的微观组织第114-118页
        5.4.2 界面IMC的生长动力学第118-119页
        5.4.3 界面IMC的取向演变第119-121页
    5.5 单晶(001)Cu/Sn/单晶(001)Ni微焊点的界面反应第121-130页
        5.5.1 250℃下微焊点的界面反应第122-126页
        5.5.2 300℃下微焊点的界面反应第126-130页
    5.6 本章小结第130-132页
6 微焊点的力学性能第132-144页
    6.1 引言第132页
    6.2 Cu/Sn/Cu微焊点的拉伸性能第132-137页
    6.3 Cu/Sn/Ni微焊点的拉伸性能第137-141页
    6.4 微焊点拉伸性能分析第141-142页
    6.5 本章小结第142-144页
7 结论与展望第144-147页
    7.1 结论第144-145页
    7.2 创新点第145-146页
    7.3 展望第146-147页
参考文献第147-160页
攻读博士学位期间科研项目及科研成果第160-164页
致谢第164-165页
作者简介第165页

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